深圳市博劲恒科技有限公司
□一阶□二阶■三阶
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版本版次页码页次制定部门制定日期
BJH-BP8-1品质部2013-9-3
晶体管测试仪操作指引
□保密■重要□传阅
目
一、目的(Purpose)二、范围(Scope)
录(directory)
三、注意事项(Attention)四、使用方法(Usemethod)
五、测试实例说明(TestCaseSpecification)
修订日期2013.9.3版次修订内容B首次发行
制定彭礼
审核核准日期
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晶体管测试仪操作指引
□保密■重要□传阅
一、目的
为使晶体管检测仪有一定的操作方法,标准与步骤依循。
二、范围
适用于:HZ4832。
三、注意事项
1.在测量三极管的输出特性时,阶梯电流就不能太小,否则,不能显示出三极管的输出特性。阶梯电流更不能过大,这样容易损坏管子,应根据实际测量三极管的参数来确定其大小。2.“集电极功耗电阻”的选用
当测量晶体管的正向特性时,选用低阻档;当测量反向特性时,选用高阻档。集电极功耗电阻过小时,集电极电流就过大;若集电极功耗电阻过大,就达不到应该有的功耗。3.仪器工作电压超过36V,注意用电安全。
4.在使用过程中一定要先确定待测元件的特性参数,以免损坏元件和实验仪器。5.在显示调节聚焦和辉度时以屏幕显示适中为佳,过焦过亮会缩短示波管寿命。6.元件测试过程中切勿用手接触裸露带电部位,以免造成数据失真和人身安全。7.元件测试参照测试实例调节相应参数。
四、操作步骤与方法如下
1.仪器使用前准备工作
1.1确认输入电源电压并可靠接通仪器,确认仪器电源开关未被拉出,确认测试台和转换座可靠连接在实验仪上。
1.2开机预热2-3分钟,调整显示屏聚焦和辉度,以显示适中为佳。1.3对应测试元件选择合适的转换座接入测试台。2.使用仪器测试
2.1按元件极性接入相应的测试台或转换座,调整仪器,以特性曲线正确显示在屏幕中央为准。2.2记录曲线参数并绘制元件特性曲线(注意曲线单位)。
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晶体管测试仪操作指引
□保密■重要□传阅3.测试工作结束
3.1仪器面板上所有开关置OFF位,关掉仪器电源开关。3.2取下被测元件,整理实验仪器和实验平台。3.3分析实验数据和特性曲线,填写测试报告。4.仪器重要参数(详细参数见仪器说明书)
输出电压范围及电流容量
集电极扫描信号
0~5V/10A;0~10V/5A;0~50V/1A;0~100V/0.5A;
0~500V/0.1A
阶梯电流:0.2μA/级~100mA/级,
基极阶梯信号
分18档阶梯电压:0.1V级~2V/级,分5档
集电极电流:
集电极电压:
X轴偏转系数
0.05V/div~50V/div,分10
档
基极电压:
Y轴偏转系数
10μA/div~1A/div,分
16档二极管电流:0.2μA/div~5μA/div,
分5档偏转倍率×10
0.05V/div~1V/div,分5档
适应电源:
一般性能
AC220V±10%
50Hz±4%
二族显示
二簇曲线左右分列显示
并可左右位移
视在功率:约50VA(非测试状态)
约80VA(最大功率)
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晶体管测试仪操作指引
□保密■重要□传阅五、晶体管图示仪按键说明
聚焦和辅助聚焦辉度调节器
电流/度开
关电流/度开关拉出×10倍开
关位移电位器
相互配合调节,使图象清晰
改变示波管栅阴极之间的电压,改变发射电子的多少来控制辉度,适中
即可。
集电极电流Ic:10μA/div~1A/div共16档
二极管漏电流IR:0.2μA/div~5μA/div共5档
Y轴选择开关
配合上面开关,通过放大增益扩展10倍,以达到改变电流偏转的倍率作
用
通过分差平衡直流放大器的前级发大管中射极直流电路的改变,以达到
被测信号或集电极扫描线在Y轴方向移动
显示部分
集电极电源
通过开关变换使放大器分差输入端二线相互对换,达到图象在(I、II
象限)相互转换,便于NPN管转测PNP时简化测试操作。
⊥放大器输入接地,表示输入为零的基准点。校准稳压后分压,分别接如X、Y放大器,以达到10度校正目的。
通过集电极变压器50T2的不同输出电压的选择而分出四档
[0~10V(5A)]、[0~50V(1A)]、[0~100V(0.5A)]和[0~500V(0.1A)]。由低
峰值电压范档改换高档时,必须先将峰值电压50T1调到0值,换档后再按需要的电围开关压逐渐增加,否则容易击穿被测晶体管。AC档的设置是专为二极管或其
它测试,需要的双向扫描,可以方便的同时显示器件正反方向的特性曲
线
极性开关可以转换正、负集电极电压极性,在NPN型与PNP型半导体管
极性开关
的测试时,极性可以按面板指示的极性选择。
转换峰值电压%
峰值电压控制旋钮可以在0~10V、0~50V、0~100V或0~500V之间连续可变,面板上的标称值是做近似值使用,精确的读数应由X轴偏转灵敏度
读测
它是串联在被测管的集电极电路上限制超过功耗,亦可作被测半导体管
功耗限制电
集电极负载的电阻。通过图示仪的特性曲线簇的斜率,可选择合适的负
阻
载电阻值。
电容平衡电为了尽量减少电容性电流,测试前应调节电容平衡,使容性电流减至最位器小状态。
辅助电容平衡电位器
针对集电极变压器50T2次级绕组对电容的不对称,后再次进行电容平
衡。
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晶体管测试仪操作指引
□保密■重要□传阅
极型开关级/簇电位器
取决与半导体管的特性
级/簇控制用来调节阶梯信号的级数在0~10的范围内,连续可调。未测试前,应首先调整阶梯信号起始级,零电位的位置。当荧光器上已
调零电位器
观察到基极阶梯信号后70S1置与零电压,观察光点停留在荧光屏的位置,复位后调节“阶梯调零”控制器使阶梯信号的起始级光点仍在该处,
这样阶梯信号的零点位即被准确校正了。
通过改变开关的不同档级的电阻阶梯选择开关基极电流0.2μA/级~0.1A/级共18档,
阶梯信号
电压-电流/级
开关重复、关开关
值使基极所在档内的电流通过被测半导体。
基极电压源0.1V/级~2V/级共5档
重复:使阶梯信号重复出现,做正常测试;关:阶梯信号处于待触发状
态。
单簇的按动使预先调整好的电压(电流)/级,出现一次阶梯信号后回
单簇按开关
到等待触发位置,可以利用它的瞬间作用的特性来观察被测管的各种极
限特性。
串联电阻开关
极性
当阶梯选择开关置于“电压/级”的位置时,串联电阻将被串联在被测
管的输入电路中。
极性的选择取决于被测晶体管的特性。
可以在测试时选择左右两个被测管的特性,当置于二簇时,即开通电子
测试选择开关开关自动地交替显示左右二簇特性曲线。二簇特性曲线比较时勿用单簇
按。
测试选择开关
零点压
被测管未测之前,应首先调整阶梯信号的起始级在零电位的位置。当屏幕上已经观察到基极阶梯信号后,再按下“零电位”观察光点停留在荧光屏上的位置,复位后调节“阶梯调零”控制器,使阶梯信号的起始级
光点仍在该处,这样阶梯信号的零电压即被准确地校准。
零点流
使被测半导体管的基极处于开路状态,即能测量ICO特性。
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为使晶体管检测仪有一定的操作方法,标准与步骤依循。
二、范围
适用于:HZ4832。
三、注意事项
1.在测量三极管的输出特性时,阶梯电流就不能太小,否则,不能显示出三极管的输出特性。阶梯电流更不能过大,这样容易损坏管子,应根据实际测量三极管的参数来确定其大小。2.“集电极功耗电阻”的选用
当测量晶体管的正向特性时,选用低阻档;当测量反向特性时,选用高阻档。集电极功耗电阻过小时,集电极电流就过大;若集电极功耗电阻过大,就达不到应该有的功耗。3.仪器工作电压超过36V,注意用电安全。
4.在使用过程中一定要先确定待测元件的特性参数,以免损坏元件和实验仪器。5.在显示调节聚焦和辉度时以屏幕显示适中为佳,过焦过亮会缩短示波管寿命。6.元件测试过程中切勿用手接触裸露带电部位,以免造成数据失真和人身安全。7.元件测试参照测试实例调节相应参数。
四、操作步骤与方法如下
1.仪器使用前准备工作
1.1确认输入电源电压并可靠接通仪器,确认仪器电源开关未被拉出,确认测试台和转换座可靠连接在实验仪上。
1.2开机预热2-3分钟,调整显示屏聚焦和辉度,以显示适中为佳。1.3对应测试元件选择合适的转换座接入测试台。2.使用仪器测试
2.1按元件极性接入相应的测试台或转换座,调整仪器,以特性曲线正确显示在屏幕中央为准。2.2记录曲线参数并绘制元件特性曲线(注意曲线单位)。
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□保密■重要□传阅3.测试工作结束
3.1仪器面板上所有开关置OFF位,关掉仪器电源开关。3.2取下被测元件,整理实验仪器和实验平台。3.3分析实验数据和特性曲线,填写测试报告。4.仪器重要参数(详细参数见仪器说明书)
输出电压范围及电流容量
集电极扫描信号
0~5V/10A;0~10V/5A;0~50V/1A;0~100V/0.5A;
0~500V/0.1A
阶梯电流:0.2μA/级~100mA/级,
基极阶梯信号
分18档阶梯电压:0.1V级~2V/级,分5档
集电极电流:
集电极电压:
X轴偏转系数
0.05V/div~50V/div,分10
档
基极电压:
Y轴偏转系数
10μA/div~1A/div,分
16档二极管电流:0.2μA/div~5μA/div,
分5档偏转倍率×10
0.05V/div~1V/div,分5档
适应电源:
一般性能
AC220V±10%
50Hz±4%
二族显示
二簇曲线左右分列显示
并可左右位移
视在功率:约50VA(非测试状态)
约80VA(最大功率)
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□保密■重要□传阅五、晶体管图示仪按键说明
聚焦和辅助聚焦辉度调节器
电流/度开
关电流/度开关拉出×10倍开
关位移电位器
相互配合调节,使图象清晰
改变示波管栅阴极之间的电压,改变发射电子的多少来控制辉度,适中
即可。
集电极电流Ic:10μA/div~1A/div共16档
二极管漏电流IR:0.2μA/div~5μA/div共5档
Y轴选择开关
配合上面开关,通过放大增益扩展10倍,以达到改变电流偏转的倍率作
用
通过分差平衡直流放大器的前级发大管中射极直流电路的改变,以达到
被测信号或集电极扫描线在Y轴方向移动
显示部分
集电极电源
通过开关变换使放大器分差输入端二线相互对换,达到图象在(I、II
象限)相互转换,便于NPN管转测PNP时简化测试操作。
⊥放大器输入接地,表示输入为零的基准点。校准稳压后分压,分别接如X、Y放大器,以达到10度校正目的。
通过集电极变压器50T2的不同输出电压的选择而分出四档
[0~10V(5A)]、[0~50V(1A)]、[0~100V(0.5A)]和[0~500V(0.1A)]。由低
峰值电压范档改换高档时,必须先将峰值电压50T1调到0值,换档后再按需要的电围开关压逐渐增加,否则容易击穿被测晶体管。AC档的设置是专为二极管或其
它测试,需要的双向扫描,可以方便的同时显示器件正反方向的特性曲
线
极性开关可以转换正、负集电极电压极性,在NPN型与PNP型半导体管
极性开关
的测试时,极性可以按面板指示的极性选择。
转换峰值电压%
峰值电压控制旋钮可以在0~10V、0~50V、0~100V或0~500V之间连续可变,面板上的标称值是做近似值使用,精确的读数应由X轴偏转灵敏度
读测
它是串联在被测管的集电极电路上限制超过功耗,亦可作被测半导体管
功耗限制电
集电极负载的电阻。通过图示仪的特性曲线簇的斜率,可选择合适的负
阻
载电阻值。
电容平衡电为了尽量减少电容性电流,测试前应调节电容平衡,使容性电流减至最位器小状态。
辅助电容平衡电位器
针对集电极变压器50T2次级绕组对电容的不对称,后再次进行电容平
衡。
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极型开关级/簇电位器
取决与半导体管的特性
级/簇控制用来调节阶梯信号的级数在0~10的范围内,连续可调。未测试前,应首先调整阶梯信号起始级,零电位的位置。当荧光器上已
调零电位器
观察到基极阶梯信号后70S1置与零电压,观察光点停留在荧光屏的位置,复位后调节“阶梯调零”控制器使阶梯信号的起始级光点仍在该处,
这样阶梯信号的零点位即被准确校正了。
通过改变开关的不同档级的电阻阶梯选择开关基极电流0.2μA/级~0.1A/级共18档,
阶梯信号
电压-电流/级
开关重复、关开关
值使基极所在档内的电流通过被测半导体。
基极电压源0.1V/级~2V/级共5档
重复:使阶梯信号重复出现,做正常测试;关:阶梯信号处于待触发状
态。
单簇的按动使预先调整好的电压(电流)/级,出现一次阶梯信号后回
单簇按开关
到等待触发位置,可以利用它的瞬间作用的特性来观察被测管的各种极
限特性。
串联电阻开关
极性
当阶梯选择开关置于“电压/级”的位置时,串联电阻将被串联在被测
管的输入电路中。
极性的选择取决于被测晶体管的特性。
可以在测试时选择左右两个被测管的特性,当置于二簇时,即开通电子
测试选择开关开关自动地交替显示左右二簇特性曲线。二簇特性曲线比较时勿用单簇
按。
测试选择开关
零点压
被测管未测之前,应首先调整阶梯信号的起始级在零电位的位置。当屏幕上已经观察到基极阶梯信号后,再按下“零电位”观察光点停留在荧光屏上的位置,复位后调节“阶梯调零”控制器,使阶梯信号的起始级
光点仍在该处,这样阶梯信号的零电压即被准确地校准。
零点流
使被测半导体管的基极处于开路状态,即能测量ICO特性。
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