第33卷第31期第33卷第31期Vol.33No.31
企业技术开发
TECHNOLOGICAL DEVELOPMENT OF ENTERPRISE
2014年11月Nov.2014
光学干涉、衍射实验的拓展与研究文献综述
梅立坤,费波涛朱剑玫,
湖北武汉430065)(武汉工商学院实验教学中心,
摘
要:杨氏双缝干涉、单缝衍射是经典的光学实验,由于仪器结构参数都有固定值,所以实验现象和数据测定是学术界
公认的
。文章将改变传统的
仪器结构,制作出能精确测量狭缝宽度的实验装置,且该装置能满足所需的精度要求,通过调
节狭缝大小进行具体的实验数据测量分析,并讨论狭缝大小不同条件下的干涉条纹现象。关键词:杨氏双缝干涉;夫琅禾费衍射;光源宽度;单色性中图分类号:O436.1
文献标识码:A
文章编号:1006-8937(2014)31-0023-03
DOI :10.14165/j.cnki.hunansci.2014.31.008
Development and experimental study of literature review of optical interference and
diffraction
MEILi-kun,FEIBo-taoZHUJian-mei,
WuhanTechnologyandBusinessUniversity,Wuhan,Hubei,430065,China)(TheExperimentalTeachingCenter,
Abst ract:Young'sdoubleslitinterference,singleslitdiffractionisopticalexperimentalclassical,becausetheinstrumentstructureparametershavefixedvalues,sotheexperimentalphenomenaanddatameasurementisrecognizedbytheacademiccommunity.Thearticlewillchangethetraditionalstructureofinstrument,toproducetheexperimentaldeviceforaccuratemeasurementoftheslitwidth,andthedevicecanmeettherequirementofaccuracydesired,analyzetheexperimentaldatameasuredbyadjustingthesizeofspecificslit,anddiscusstheinterferencefringephenomenonslitsizeunderdifferentconditions.
Keywords :Young'sdoubleslitinterference;fraunhoferdiffraction;widthoflightsource;monochromaticity
1
1.1
国内外目前在该领域的研究现状
光的干涉与衍射的区别与联系
在目前国内外大学教材中[1-5],能够把单缝、双缝以
相间的条纹。只是衍射现象中条纹的宽度和亮度均不等,且中央条纹最宽最亮,而干涉现象中条纹宽度和亮
7]
。度都大致相同[6,
及光栅等实验联系起来并深层次进行比较的很少见。而国内教材都是将双缝干涉与单缝衍射实验分开来进行介绍,教师注重从光程差来讨论干涉的明暗分布情况,用半波带法来研究衍射图样的特点。
①当狭缝宽时,每个狭缝等同于一个线光源,都不能再继续分,不需要考虑同一光束之间的次波叠加,只需要考虑两个缝相互间波的相干叠加情况,这就是纯干涉实验效应,如图1所示。
②当缝宽不是很小,即与可以相比较时,从每个狭缝中发出的光波振幅明显不相等,它可以认为是无限个连续次波的相干叠加,即是我们常见单缝衍射,这就是纯衍射实验效应,如图2所示。
虽然衍射和干涉有所区别,但两者不是对立的两种效应,它们可被看成一个相同的现象,及都是波场相干叠加的原理。衍射和干涉的图样有相同之处,都是明暗
收稿日期:2014-09-17
朱剑玫(1981—),女,湖北监利人,大学本科,实验师,研究作者简介:
方向:大学基础物理,网络工程。
图1双缝干涉图样
图2单缝衍射图样
1.2杨氏双缝干涉的研究
由于杨氏双缝实验是经典的光学实验,因此,关于
它的分析讨论参考文献比较多,以下是对相关文献总结与归纳。
用一薄玻①光源的非单色性对干涉现象的影响[8]:璃片置于狭缝后,当用白光照射小孔S时,由于白光相干长度很小,玻璃片给两相干光附加的光程差已超过光源本身的相干长度,所以在接收屏上看不到干涉条纹。然而,用相干长度大的氦氖激光照射同一狭缝时,在接收屏上可看到可见度非常高的干涉条纹。这说明光源的时间相干性直接影响干涉条纹的可见度,关于单色光和非单色光的计算机模拟干涉图样也能反映出该结论[9-14]。
24
企业技术开发
关系[30-32]。
④用新型材料做杨氏双缝实验[33]。
2014年11月
15]
②光源宽度对干涉条纹的影响[8,:任何光源都是有
宽度的,可以把它分解为多个线光源的集合,每个线光源在接收屏上形成独自的干涉图样,这些干涉图样相互间都有位移,它们的非相干叠加会造成总干涉图样完全不清晰,甚至会使图样的可见度完全降为零。只有当光源宽度小于临界宽度时,才能观察到干涉条纹,但在实际实验过程中,光源宽度取值太小,光场能量也会非常小,这样也会影响观察实验干涉现象[16-21]。
③双缝缝宽和大小不同以及双缝宽度变化:当双缝缝宽不同时,屏幕上就会有一定光强的背景光,且随着缝宽差距逐渐变大,背景光强也会同时增大。这样就会使干涉条纹的对比度下降,不利于观测。在双缝宽度比较小时,干涉图样很明显,但当缝宽逐渐增加时,衍射条纹就慢慢变细,这样在观测范围内不能再不考虑衍射条纹的影响,此时观测到的就是等光强不相同的条纹了[22]。
④双缝间距对干涉图样的影响[16-21]。⑤光源离双缝距离对干涉图样的影响[16-21]。1.3
单缝、双缝衍射的研究
①单缝夫琅禾费衍射及计算机模拟图样所示。
[22-26]
2结语
衍射的因素很多,各类文献也都有详细的影响干涉、
讨论,但都是进行理论分析,然后,根据理论数据进行了计算机仿真,得出较好的图样。但这是否和实际情况相符,这将是本文研究的重点。本项目完成后,可用实际的实验数据来对比理论推导是否合理,从而正确认识干涉、衍射的原理,影响实验现象的各种因素。
参考文献:
[1]P.R.Crease.The most beautiful experiment[J].PhysicsWorld ,
2002,(9):19-20.
[2]姚启钧. 光学教程(第三版)[M].北京:高等教育出版社,
2002.
[3]苗俊伟,吴汝,耿菊平. 等. 杨氏双缝干涉实验中光的相干
叠加与非相干叠加问题[J].河北师范大学学报(自然科学版),1996,20(1):47-48.
[4]马文蔚. 物理学(第五版)[M].北京:高等教育出版社,2006. [5]Alonso.M ,Finn.J.Fundamental ,University Physics[M].Massach
usetts :Addison Wesley Publishing Company ,1980. [6]滕琴. 干涉与衍射异同点的探讨[J].光学仪器,2008,30(4):60-64.
[7]依斯坎德尔·吾斯曼. 关于光的干涉与衍射现象的研究[J].
如图3,
图3
单缝夫琅禾费衍射图样
②圆孔夫琅禾费衍射及计算机模拟图样所示。
[22-26]
如图4,
浙江教育学院学报,2003,(1):60-63,67.
[8]刘荣万. 对杨氏实验的分析[J].韶关大学学报(自然科学
版),1996,17(2):33-38.
[9]段晓勇,单永明. 光的干涉和衍射的Matlab 数值模拟[J].大
学物理实验,2012,25(3):95-97.
[10]王立明. 计算机模拟光源的光谱强度分布对杨氏双缝干
涉条纹的影响[J].高等函授学报(自然科学版),2007,21(5):45-49.
[11]刘效勇,卢佩. 杨氏双缝干涉实验的虚拟仿真实现[J].石
河子大学学报(自然科学版),2008,26(5):652-654.
图4
圆孔夫琅禾费衍射图样
[12]刁述妍,鲁运庚. 托马斯·杨与杨氏干涉实验[J].物理,
1999,28(3):187-190.
[13]张志勇. 精通Matlab 6.5[M].北京:北京航空航天大学出
版社,2003.
[14]于玉琴. 在杨氏双缝干涉实验中非单色光干涉图样的理
论判断方法[J].大学物理实验,2003,16(1):26-28. [15]章启鸣. 光源线度对双缝干涉光强分布的影响[J].科技视
界,2012,(17):111-113.
如图5③双缝夫琅禾费衍射及计算机模拟图样[22-26],所示。
图5
双缝夫琅禾费衍射图样
1.4杨氏双缝实验的应用
①杨氏双缝实验缝宽大小不同形成的干涉图样和
28][27,
[16]林继成,何龙庆. 杨氏双缝实验的数值模拟与分析[J].南
京晓庄学院学报,2008,(6):114-118.
[17]赵秋宇,张德喜. 基于Matlab 的单色光双缝干涉现象的
计算机仿真[J].许昌学院学报,2004,23(2):126-128. [18]毛欲民,洪家平. 基于Matlab 的杨氏双缝干涉实验仿真
[J].湖北师范学院学报(自然科学版),2007,27(1):17-20.
光的偏振性之间的关系
[29]
。
以及光学②用杨氏双缝实验测定各种光谱线波长,器件的折射率。
③用杨氏双缝实验研究波粒二象性和量子力学的
第33卷第31期等:光学干涉、衍射实验的拓展与研究文献综述朱剑玫,
25
许晓琳,王明虎. 光干涉实验的计算机模拟[J].大学[19]梁齐,
物理实验,2003,16(3):61-63.
[20]Vest C M.Holographic interfer meter[M].NewYork :John
Wiley&Sons,1979.
[21]Goodman JW.Introduction to Fourier Optics (second
edition )[M].NewYork :McGraw-HillCompanies ,Inc ,1998. [22]谢吉刚. 关于双缝干涉条纹在几种不同情况下的讨论[J].
南京工业职业技术学院学报,2003,3(3):88-90. [23]张志峰,张防震,任玉芬. 基于MATLAB 的夫琅禾费衍射
实验研究[J].河南财政税务高等专科学校学报,2010,24(5):75-77.
[24]谢嘉宁,赵建林,陈伟成,等. 夫琅禾费衍射的计算机仿
真[J].大学物理,2004,23(3):51-54.
[25]文建国,金声震,宁书年,等. 基本夫琅和费衍射实验的
计算机仿真[J].大学物理实验,2002,15(4):64-66. [26]Zhifeng Zhang ,Yuling Su ,Chao Lu ,et al.Denoising of
Fraunhofer diffraction signal based on wavelet analysis [C].2010International Conference on Measuring Tech -nology and Mechatronics Automation ,Conference of IEEE :902-905.
[27]Chen Ziyang ,Pu Jixiong.Degree of polarization in Young's
double-slit interference experiment formed by stochastic electromagnetic beams[J].Journalof the Optical Society
of America A :Optics and Image Science and Vision ,2007,24(7):2043-2048.
[28]H.K.Pak.Double slit with continuously variable width
and center-to-center separation[J].Appliedoptics ,1993,32(19).
[29]Leitenberger.W ,Kuznetsov.S.M ,Snigirev.A.Interferometric
mea surements with hard X-rays using a double slit[J].Optics Communications ,2001,191(1-2):91-96. [30]Gan Shu ,Zhang Su -Heng ,Xiong Jun ,et al.Interference
from a nonlocal double-slit through one-photon process [J].OpticsExpress ,2009,17(26):23672-23677.
[31]Van Exter.M.P ,Renema.J.J ,Peeters.W.H.Two-photon inter -
ference behind Young's double slit[A].Conferenceon Quan-tum Electronics and Laser Science (QELS )-Tech -nical Digest Series ,2008[C].2008Conference on and Quan -tum Electronics and Laser Science Conference Lasers and Electro-Optics ,QELS.
[32]Dimitrova.T.L ,Weis.A.A portable double-slit quantum eraser
with individual photons[J].EuropeanJournal of Physics ,2011,32(6):1535-1546.
[33]Liu Gang ,Zhang Yong ,Lau Chun Ning.Electronic double
slit interferometers based on carbon nanotubes [J].NanoLetters ,2011,11(10):4043-4046.
[6]MD 20899,Simulating The Dynamic Electro-Thermal Beha-vior of Power Electronic Circuits And Systems[S].[7]Malay Trivedi ,Krishna Shenai.Investigation of the Short -Circuit Performance of an IGBT[J].IEEETransactions On Electron Devices ,1998,45(1):313-320.
[8]Fritzh.Gaensslen ,V.Leo Rideout ,E.J.Walker ,et al.Very Small
MOSFET ’s for Low-Temperature Operation [J].IEEETrans-actions on power electronic devices ,1977,24(3):218-229. [9]王守武. 半导体器件研究与进展[M].北京:科学出版社,
1988.
[10]何野,魏同力. 半导体器件的计算机模拟方法[M].北京:
科学出版社,1989.
[11]杨世铭,陶文铨. 传热学[M].北京:高等教育出版社,1998.
)Dimensional Carrier flow in a Transistor (上接第10页
Structure Under Nonisothermal Condi -tions [J].Transactionson Electron Devices ,1976,23(1):50-57.
[2]Vinson C.Alwin ,David H.Navon ,Luke J.Turgeon.Time -Dependent Carrier Flow in a Transistor Structure Under Nonisothermal
Conditions
[J].Transactions
on
Electron
Devices ,1977,24(11):1297-1304.
[3]吴岩松. 基于IGBT 开关动态特性离线测试系统的大功率
逆变器热—电耦合研究[D].杭州:浙江大学,2013. [4]王倩.IGBT 的电热学特性的研究[D].无锡:江南大学,2008. [5]Anis Ammous ,Kaiar Ammous ,Herv éMorel ,et al.Electron -
thermal Modeling of IGBT's :Application to Short -Circuit Conditions[J].TransactionPower Electronics ,2000,15(4):778-790.
中国画报出版社,2012. (上接第17页)展理论[M].北京:[2]Vikas A.Aggarwal ,David H.Hsu..Research article modes
of cooperative R&Dcommercialization by start -ups [J].Strategic Management Journal ,2009,30(8):835-864. [3]Philip R.Tomlinson ,Felicia M.Fai..The nature of SME
co -operation and innovation :A multi -scalar and multi -dimensional analysis[J].InternationalJournal of Production Economics ,2013,(14):316-326.
[4]曹素璋,高阳,张红宇. 企业技术能力与技术创新模式选
择:一个梯度演化模型[J].科技进步与对策,2009,26(1):79-83.
—基[5]吴晓园,丛林. 企业技术创新策略与政府R&D补贴——
于不完美信息的动态博弈模型[J].科学学与科学技术管理,2012,33(2):56-62.
[6]尹作亮. 中小企业技术创新模式及其风险的比较分析[J].
技术与创新管理,2012,33(3):252-255.
[7]蔡瑞林,孙洁. 中小企业技术创新机制的力学模型研究[J].
科技管理研究,2012,(8):101-105,110.
—基于政[8]王云,佟岩. 中小企业技术创新的经济学分析——
企相关利益博弈分析[J].科技与经济,2013,26(6):41-45. [9]赵忠伟. 中小型高科技企业技术创新模式选择研究[J].科
技管理研究,2009,(8):456-458.
第33卷第31期第33卷第31期Vol.33No.31
企业技术开发
TECHNOLOGICAL DEVELOPMENT OF ENTERPRISE
2014年11月Nov.2014
光学干涉、衍射实验的拓展与研究文献综述
梅立坤,费波涛朱剑玫,
湖北武汉430065)(武汉工商学院实验教学中心,
摘
要:杨氏双缝干涉、单缝衍射是经典的光学实验,由于仪器结构参数都有固定值,所以实验现象和数据测定是学术界
公认的
。文章将改变传统的
仪器结构,制作出能精确测量狭缝宽度的实验装置,且该装置能满足所需的精度要求,通过调
节狭缝大小进行具体的实验数据测量分析,并讨论狭缝大小不同条件下的干涉条纹现象。关键词:杨氏双缝干涉;夫琅禾费衍射;光源宽度;单色性中图分类号:O436.1
文献标识码:A
文章编号:1006-8937(2014)31-0023-03
DOI :10.14165/j.cnki.hunansci.2014.31.008
Development and experimental study of literature review of optical interference and
diffraction
MEILi-kun,FEIBo-taoZHUJian-mei,
WuhanTechnologyandBusinessUniversity,Wuhan,Hubei,430065,China)(TheExperimentalTeachingCenter,
Abst ract:Young'sdoubleslitinterference,singleslitdiffractionisopticalexperimentalclassical,becausetheinstrumentstructureparametershavefixedvalues,sotheexperimentalphenomenaanddatameasurementisrecognizedbytheacademiccommunity.Thearticlewillchangethetraditionalstructureofinstrument,toproducetheexperimentaldeviceforaccuratemeasurementoftheslitwidth,andthedevicecanmeettherequirementofaccuracydesired,analyzetheexperimentaldatameasuredbyadjustingthesizeofspecificslit,anddiscusstheinterferencefringephenomenonslitsizeunderdifferentconditions.
Keywords :Young'sdoubleslitinterference;fraunhoferdiffraction;widthoflightsource;monochromaticity
1
1.1
国内外目前在该领域的研究现状
光的干涉与衍射的区别与联系
在目前国内外大学教材中[1-5],能够把单缝、双缝以
相间的条纹。只是衍射现象中条纹的宽度和亮度均不等,且中央条纹最宽最亮,而干涉现象中条纹宽度和亮
7]
。度都大致相同[6,
及光栅等实验联系起来并深层次进行比较的很少见。而国内教材都是将双缝干涉与单缝衍射实验分开来进行介绍,教师注重从光程差来讨论干涉的明暗分布情况,用半波带法来研究衍射图样的特点。
①当狭缝宽时,每个狭缝等同于一个线光源,都不能再继续分,不需要考虑同一光束之间的次波叠加,只需要考虑两个缝相互间波的相干叠加情况,这就是纯干涉实验效应,如图1所示。
②当缝宽不是很小,即与可以相比较时,从每个狭缝中发出的光波振幅明显不相等,它可以认为是无限个连续次波的相干叠加,即是我们常见单缝衍射,这就是纯衍射实验效应,如图2所示。
虽然衍射和干涉有所区别,但两者不是对立的两种效应,它们可被看成一个相同的现象,及都是波场相干叠加的原理。衍射和干涉的图样有相同之处,都是明暗
收稿日期:2014-09-17
朱剑玫(1981—),女,湖北监利人,大学本科,实验师,研究作者简介:
方向:大学基础物理,网络工程。
图1双缝干涉图样
图2单缝衍射图样
1.2杨氏双缝干涉的研究
由于杨氏双缝实验是经典的光学实验,因此,关于
它的分析讨论参考文献比较多,以下是对相关文献总结与归纳。
用一薄玻①光源的非单色性对干涉现象的影响[8]:璃片置于狭缝后,当用白光照射小孔S时,由于白光相干长度很小,玻璃片给两相干光附加的光程差已超过光源本身的相干长度,所以在接收屏上看不到干涉条纹。然而,用相干长度大的氦氖激光照射同一狭缝时,在接收屏上可看到可见度非常高的干涉条纹。这说明光源的时间相干性直接影响干涉条纹的可见度,关于单色光和非单色光的计算机模拟干涉图样也能反映出该结论[9-14]。
24
企业技术开发
关系[30-32]。
④用新型材料做杨氏双缝实验[33]。
2014年11月
15]
②光源宽度对干涉条纹的影响[8,:任何光源都是有
宽度的,可以把它分解为多个线光源的集合,每个线光源在接收屏上形成独自的干涉图样,这些干涉图样相互间都有位移,它们的非相干叠加会造成总干涉图样完全不清晰,甚至会使图样的可见度完全降为零。只有当光源宽度小于临界宽度时,才能观察到干涉条纹,但在实际实验过程中,光源宽度取值太小,光场能量也会非常小,这样也会影响观察实验干涉现象[16-21]。
③双缝缝宽和大小不同以及双缝宽度变化:当双缝缝宽不同时,屏幕上就会有一定光强的背景光,且随着缝宽差距逐渐变大,背景光强也会同时增大。这样就会使干涉条纹的对比度下降,不利于观测。在双缝宽度比较小时,干涉图样很明显,但当缝宽逐渐增加时,衍射条纹就慢慢变细,这样在观测范围内不能再不考虑衍射条纹的影响,此时观测到的就是等光强不相同的条纹了[22]。
④双缝间距对干涉图样的影响[16-21]。⑤光源离双缝距离对干涉图样的影响[16-21]。1.3
单缝、双缝衍射的研究
①单缝夫琅禾费衍射及计算机模拟图样所示。
[22-26]
2结语
衍射的因素很多,各类文献也都有详细的影响干涉、
讨论,但都是进行理论分析,然后,根据理论数据进行了计算机仿真,得出较好的图样。但这是否和实际情况相符,这将是本文研究的重点。本项目完成后,可用实际的实验数据来对比理论推导是否合理,从而正确认识干涉、衍射的原理,影响实验现象的各种因素。
参考文献:
[1]P.R.Crease.The most beautiful experiment[J].PhysicsWorld ,
2002,(9):19-20.
[2]姚启钧. 光学教程(第三版)[M].北京:高等教育出版社,
2002.
[3]苗俊伟,吴汝,耿菊平. 等. 杨氏双缝干涉实验中光的相干
叠加与非相干叠加问题[J].河北师范大学学报(自然科学版),1996,20(1):47-48.
[4]马文蔚. 物理学(第五版)[M].北京:高等教育出版社,2006. [5]Alonso.M ,Finn.J.Fundamental ,University Physics[M].Massach
usetts :Addison Wesley Publishing Company ,1980. [6]滕琴. 干涉与衍射异同点的探讨[J].光学仪器,2008,30(4):60-64.
[7]依斯坎德尔·吾斯曼. 关于光的干涉与衍射现象的研究[J].
如图3,
图3
单缝夫琅禾费衍射图样
②圆孔夫琅禾费衍射及计算机模拟图样所示。
[22-26]
如图4,
浙江教育学院学报,2003,(1):60-63,67.
[8]刘荣万. 对杨氏实验的分析[J].韶关大学学报(自然科学
版),1996,17(2):33-38.
[9]段晓勇,单永明. 光的干涉和衍射的Matlab 数值模拟[J].大
学物理实验,2012,25(3):95-97.
[10]王立明. 计算机模拟光源的光谱强度分布对杨氏双缝干
涉条纹的影响[J].高等函授学报(自然科学版),2007,21(5):45-49.
[11]刘效勇,卢佩. 杨氏双缝干涉实验的虚拟仿真实现[J].石
河子大学学报(自然科学版),2008,26(5):652-654.
图4
圆孔夫琅禾费衍射图样
[12]刁述妍,鲁运庚. 托马斯·杨与杨氏干涉实验[J].物理,
1999,28(3):187-190.
[13]张志勇. 精通Matlab 6.5[M].北京:北京航空航天大学出
版社,2003.
[14]于玉琴. 在杨氏双缝干涉实验中非单色光干涉图样的理
论判断方法[J].大学物理实验,2003,16(1):26-28. [15]章启鸣. 光源线度对双缝干涉光强分布的影响[J].科技视
界,2012,(17):111-113.
如图5③双缝夫琅禾费衍射及计算机模拟图样[22-26],所示。
图5
双缝夫琅禾费衍射图样
1.4杨氏双缝实验的应用
①杨氏双缝实验缝宽大小不同形成的干涉图样和
28][27,
[16]林继成,何龙庆. 杨氏双缝实验的数值模拟与分析[J].南
京晓庄学院学报,2008,(6):114-118.
[17]赵秋宇,张德喜. 基于Matlab 的单色光双缝干涉现象的
计算机仿真[J].许昌学院学报,2004,23(2):126-128. [18]毛欲民,洪家平. 基于Matlab 的杨氏双缝干涉实验仿真
[J].湖北师范学院学报(自然科学版),2007,27(1):17-20.
光的偏振性之间的关系
[29]
。
以及光学②用杨氏双缝实验测定各种光谱线波长,器件的折射率。
③用杨氏双缝实验研究波粒二象性和量子力学的
第33卷第31期等:光学干涉、衍射实验的拓展与研究文献综述朱剑玫,
25
许晓琳,王明虎. 光干涉实验的计算机模拟[J].大学[19]梁齐,
物理实验,2003,16(3):61-63.
[20]Vest C M.Holographic interfer meter[M].NewYork :John
Wiley&Sons,1979.
[21]Goodman JW.Introduction to Fourier Optics (second
edition )[M].NewYork :McGraw-HillCompanies ,Inc ,1998. [22]谢吉刚. 关于双缝干涉条纹在几种不同情况下的讨论[J].
南京工业职业技术学院学报,2003,3(3):88-90. [23]张志峰,张防震,任玉芬. 基于MATLAB 的夫琅禾费衍射
实验研究[J].河南财政税务高等专科学校学报,2010,24(5):75-77.
[24]谢嘉宁,赵建林,陈伟成,等. 夫琅禾费衍射的计算机仿
真[J].大学物理,2004,23(3):51-54.
[25]文建国,金声震,宁书年,等. 基本夫琅和费衍射实验的
计算机仿真[J].大学物理实验,2002,15(4):64-66. [26]Zhifeng Zhang ,Yuling Su ,Chao Lu ,et al.Denoising of
Fraunhofer diffraction signal based on wavelet analysis [C].2010International Conference on Measuring Tech -nology and Mechatronics Automation ,Conference of IEEE :902-905.
[27]Chen Ziyang ,Pu Jixiong.Degree of polarization in Young's
double-slit interference experiment formed by stochastic electromagnetic beams[J].Journalof the Optical Society
of America A :Optics and Image Science and Vision ,2007,24(7):2043-2048.
[28]H.K.Pak.Double slit with continuously variable width
and center-to-center separation[J].Appliedoptics ,1993,32(19).
[29]Leitenberger.W ,Kuznetsov.S.M ,Snigirev.A.Interferometric
mea surements with hard X-rays using a double slit[J].Optics Communications ,2001,191(1-2):91-96. [30]Gan Shu ,Zhang Su -Heng ,Xiong Jun ,et al.Interference
from a nonlocal double-slit through one-photon process [J].OpticsExpress ,2009,17(26):23672-23677.
[31]Van Exter.M.P ,Renema.J.J ,Peeters.W.H.Two-photon inter -
ference behind Young's double slit[A].Conferenceon Quan-tum Electronics and Laser Science (QELS )-Tech -nical Digest Series ,2008[C].2008Conference on and Quan -tum Electronics and Laser Science Conference Lasers and Electro-Optics ,QELS.
[32]Dimitrova.T.L ,Weis.A.A portable double-slit quantum eraser
with individual photons[J].EuropeanJournal of Physics ,2011,32(6):1535-1546.
[33]Liu Gang ,Zhang Yong ,Lau Chun Ning.Electronic double
slit interferometers based on carbon nanotubes [J].NanoLetters ,2011,11(10):4043-4046.
[6]MD 20899,Simulating The Dynamic Electro-Thermal Beha-vior of Power Electronic Circuits And Systems[S].[7]Malay Trivedi ,Krishna Shenai.Investigation of the Short -Circuit Performance of an IGBT[J].IEEETransactions On Electron Devices ,1998,45(1):313-320.
[8]Fritzh.Gaensslen ,V.Leo Rideout ,E.J.Walker ,et al.Very Small
MOSFET ’s for Low-Temperature Operation [J].IEEETrans-actions on power electronic devices ,1977,24(3):218-229. [9]王守武. 半导体器件研究与进展[M].北京:科学出版社,
1988.
[10]何野,魏同力. 半导体器件的计算机模拟方法[M].北京:
科学出版社,1989.
[11]杨世铭,陶文铨. 传热学[M].北京:高等教育出版社,1998.
)Dimensional Carrier flow in a Transistor (上接第10页
Structure Under Nonisothermal Condi -tions [J].Transactionson Electron Devices ,1976,23(1):50-57.
[2]Vinson C.Alwin ,David H.Navon ,Luke J.Turgeon.Time -Dependent Carrier Flow in a Transistor Structure Under Nonisothermal
Conditions
[J].Transactions
on
Electron
Devices ,1977,24(11):1297-1304.
[3]吴岩松. 基于IGBT 开关动态特性离线测试系统的大功率
逆变器热—电耦合研究[D].杭州:浙江大学,2013. [4]王倩.IGBT 的电热学特性的研究[D].无锡:江南大学,2008. [5]Anis Ammous ,Kaiar Ammous ,Herv éMorel ,et al.Electron -
thermal Modeling of IGBT's :Application to Short -Circuit Conditions[J].TransactionPower Electronics ,2000,15(4):778-790.
中国画报出版社,2012. (上接第17页)展理论[M].北京:[2]Vikas A.Aggarwal ,David H.Hsu..Research article modes
of cooperative R&Dcommercialization by start -ups [J].Strategic Management Journal ,2009,30(8):835-864. [3]Philip R.Tomlinson ,Felicia M.Fai..The nature of SME
co -operation and innovation :A multi -scalar and multi -dimensional analysis[J].InternationalJournal of Production Economics ,2013,(14):316-326.
[4]曹素璋,高阳,张红宇. 企业技术能力与技术创新模式选
择:一个梯度演化模型[J].科技进步与对策,2009,26(1):79-83.
—基[5]吴晓园,丛林. 企业技术创新策略与政府R&D补贴——
于不完美信息的动态博弈模型[J].科学学与科学技术管理,2012,33(2):56-62.
[6]尹作亮. 中小企业技术创新模式及其风险的比较分析[J].
技术与创新管理,2012,33(3):252-255.
[7]蔡瑞林,孙洁. 中小企业技术创新机制的力学模型研究[J].
科技管理研究,2012,(8):101-105,110.
—基于政[8]王云,佟岩. 中小企业技术创新的经济学分析——
企相关利益博弈分析[J].科技与经济,2013,26(6):41-45. [9]赵忠伟. 中小型高科技企业技术创新模式选择研究[J].科
技管理研究,2009,(8):456-458.