实验一 逻辑门电路功能测试与组合

实验一 逻辑门电路功能测试与组合

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实验一 逻辑门电路功能测试与组合

一、实验目的

1. 熟悉电子实验箱的功能及使用方法。

2. 认识集成电路的型号、外形和引脚排列,学习在实验箱上实现数字电路的方法。 2. 掌握逻辑门电路逻辑功能的测试、使用的基本方法。 3. 掌握逻辑门电路的替换方法。

二、实验用元器件

四2输入与非门7400×2 二4输入与非门7420×1 四异或门7486×1 四2输入或门7432×1 六非门7404×1 二4输入与门7421×1

实验中使用7400四2输入与非门和7420二4输入与非门,引脚图如图1—1和图1—2,

7400内部有四个独立的2输入与非门,7420内有二个4输入与非门。

图1—1 7400集成电路 图1—2 7420集成电路

实验中提供的集成块为74LS 系列的低功耗肖特基TTL 电路如74LS00和74LS20,74HC 系列的高速CMOS 电路如74HC00和74HC20,它们在逻辑上兼容,但具体物理参数不同。在CMOS 电路中输出高电平≈Vcc ,输出低电平≈0V ,规定输入高电平电压≥0.7Vcc ,输入

- 2 - 数字电子技术实验指导书

低电平电压≤0.3 Vcc,在我们的实验中Vcc =+5V ;TTL 电路的输出高电平电压2.4~3.6V ,输入开门电平1.4~1.8V 。输出低电平电压0~0.5V ,输入关门电平0.8~1V 。在实验中采用同一电源,经实际测定可以直接互接,但有些条件下要通过接口互接,当74LS 门电路驱动74HC 门电路时,要测量输出高电平电压是否够高,实际测量值要≥3.5V 。而74HC 门电路驱动74LS 门电路时,扇出系数较小,小于10。

三、预习要求

1. 熟悉本实验所用的集成电路,并认真阅读附录中注意事项。 2. 设计好实验内容中的门电路转换的电路图。

3. 根据实验原理,用铅笔填好本次实验所有的真值表,以便核实实验结果。

四、实验内容

1. 与非门逻辑功能测试。

选用双4输入与非门74LS20(或74HC20)集成块一片,集成块引脚排列规则:半圆形缺口或黑点朝左时,缺口或黑点下方为第1脚,引脚号逆时针顺序数。按图1—3电路图和所标引脚接线,输入端A 、B 、C 、D 分别接四个电平开关,开关接通“+5V”时输入高电平,接通“地”时输入低电平。输出端Y 输出经过三极管放大后驱动发光二极管(虚线内电路在实验箱内部已接好),发光二极管亮时输出为高电平,发光二极管不亮时输出为低电平。根据表1—1输入状态,分别测量输出端Y 的电压及逻辑状态,结果填入表1—1中。

图1—3 门电路测试原理图

实验一 逻辑门电路功能测试与组合

表1—1 4输入与非门测试

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2. 用与非门控制信号输出

● 用一片7400集成块,按图1—4的电路图分别在实验箱上接线,S 接电平开关,Y

接指示灯即发光二级管,观察S 对输出脉冲的控制作用。

● 回答:与非门一个输入端输入脉冲源,其余端什么状态时脉冲可通过?什么状态时

禁止脉冲通过?如要输出的波形与输入波形同相,用什么门电路?

注意:在实验箱上观察时,输入的脉冲频率必须小到眼睛能看清。改变输入脉冲频率,观测

指示灯变化,S 接电平开关。

图1—4控制输出电路原理图

3. 组合电路逻辑功能测试。

用7400集成电路,按图1—5在实验箱上接线,将输入、输出的逻辑关系分别填入表1—2中。说明A 、B 与Y 、Z 之间的逻辑关系。

表1—2 逻辑电路的逻辑关系

图1—5 逻辑电路原理图

- 4 - 数字电子技术实验指导书

4. 利用与非门组成其它逻辑门电路。

例如用2输入与非门74LS00(或74HC00)集成块组成非门。 ● 写出转换公式:Y=A =A ∙A =A ∙1。 ● 画出如下原理图:

● 在原理图上标上引脚号,按照原理图在实验箱接线验证,将结果记录到真值表。 ① 用2输入与非门组成或门。

转换公式如下:Y=A+B=A +B =A ∙B 。

② 用2输入与非门组成与门 Y =A ·B ③ 用2输入与非门组成同或门 Y=A ⊙B ④ 用2输入与非门组成异或门 Y=A ⊕B

● 写出以上门电路转换公式,画出电路图,在实验箱上接

线验证,根据表1—3的式样填真值表。

5. 设计一个4位二进制数为密码的数字密码锁,功

能框图见图1-6,如果A1、B1、C1、D1输入的密码与事先设置的密码A0、B0、C0、D0一样时,开锁灯亮;密码错误时,警报灯亮。元器件可以选择7486异或门、与非门、或门、非门、与门等,具体引脚图见指导书附录。

五、实验报告内容

1. 实验目的、内容、画出逻辑电路图。

图1-6 数字密码锁控

实验一 逻辑门电路功能测试与组合

2. 在电路图上标明接线时使用的集成块名称和引脚号,作为实验接线图。

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3. 按照实验操作过程记录、整理实验内容和结果,填好测试数据。分析、确认实验结

果的正确性,说明实验结论。

4. 对门电路转换实验,要求写出设计过程(转换公式) 。

5. 在实验总结中写上实验中遇到的问题,解决办法,体会、建议等,要求简洁、务实,

不用套话。

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一、实验目的

1. 熟悉电子实验箱的功能及使用方法。

2. 认识集成电路的型号、外形和引脚排列,学习在实验箱上实现数字电路的方法。 2. 掌握逻辑门电路逻辑功能的测试、使用的基本方法。 3. 掌握逻辑门电路的替换方法。

二、实验用元器件

四2输入与非门7400×2 二4输入与非门7420×1 四异或门7486×1 四2输入或门7432×1 六非门7404×1 二4输入与门7421×1

实验中使用7400四2输入与非门和7420二4输入与非门,引脚图如图1—1和图1—2,

7400内部有四个独立的2输入与非门,7420内有二个4输入与非门。

图1—1 7400集成电路 图1—2 7420集成电路

实验中提供的集成块为74LS 系列的低功耗肖特基TTL 电路如74LS00和74LS20,74HC 系列的高速CMOS 电路如74HC00和74HC20,它们在逻辑上兼容,但具体物理参数不同。在CMOS 电路中输出高电平≈Vcc ,输出低电平≈0V ,规定输入高电平电压≥0.7Vcc ,输入

- 2 - 数字电子技术实验指导书

低电平电压≤0.3 Vcc,在我们的实验中Vcc =+5V ;TTL 电路的输出高电平电压2.4~3.6V ,输入开门电平1.4~1.8V 。输出低电平电压0~0.5V ,输入关门电平0.8~1V 。在实验中采用同一电源,经实际测定可以直接互接,但有些条件下要通过接口互接,当74LS 门电路驱动74HC 门电路时,要测量输出高电平电压是否够高,实际测量值要≥3.5V 。而74HC 门电路驱动74LS 门电路时,扇出系数较小,小于10。

三、预习要求

1. 熟悉本实验所用的集成电路,并认真阅读附录中注意事项。 2. 设计好实验内容中的门电路转换的电路图。

3. 根据实验原理,用铅笔填好本次实验所有的真值表,以便核实实验结果。

四、实验内容

1. 与非门逻辑功能测试。

选用双4输入与非门74LS20(或74HC20)集成块一片,集成块引脚排列规则:半圆形缺口或黑点朝左时,缺口或黑点下方为第1脚,引脚号逆时针顺序数。按图1—3电路图和所标引脚接线,输入端A 、B 、C 、D 分别接四个电平开关,开关接通“+5V”时输入高电平,接通“地”时输入低电平。输出端Y 输出经过三极管放大后驱动发光二极管(虚线内电路在实验箱内部已接好),发光二极管亮时输出为高电平,发光二极管不亮时输出为低电平。根据表1—1输入状态,分别测量输出端Y 的电压及逻辑状态,结果填入表1—1中。

图1—3 门电路测试原理图

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表1—1 4输入与非门测试

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2. 用与非门控制信号输出

● 用一片7400集成块,按图1—4的电路图分别在实验箱上接线,S 接电平开关,Y

接指示灯即发光二级管,观察S 对输出脉冲的控制作用。

● 回答:与非门一个输入端输入脉冲源,其余端什么状态时脉冲可通过?什么状态时

禁止脉冲通过?如要输出的波形与输入波形同相,用什么门电路?

注意:在实验箱上观察时,输入的脉冲频率必须小到眼睛能看清。改变输入脉冲频率,观测

指示灯变化,S 接电平开关。

图1—4控制输出电路原理图

3. 组合电路逻辑功能测试。

用7400集成电路,按图1—5在实验箱上接线,将输入、输出的逻辑关系分别填入表1—2中。说明A 、B 与Y 、Z 之间的逻辑关系。

表1—2 逻辑电路的逻辑关系

图1—5 逻辑电路原理图

- 4 - 数字电子技术实验指导书

4. 利用与非门组成其它逻辑门电路。

例如用2输入与非门74LS00(或74HC00)集成块组成非门。 ● 写出转换公式:Y=A =A ∙A =A ∙1。 ● 画出如下原理图:

● 在原理图上标上引脚号,按照原理图在实验箱接线验证,将结果记录到真值表。 ① 用2输入与非门组成或门。

转换公式如下:Y=A+B=A +B =A ∙B 。

② 用2输入与非门组成与门 Y =A ·B ③ 用2输入与非门组成同或门 Y=A ⊙B ④ 用2输入与非门组成异或门 Y=A ⊕B

● 写出以上门电路转换公式,画出电路图,在实验箱上接

线验证,根据表1—3的式样填真值表。

5. 设计一个4位二进制数为密码的数字密码锁,功

能框图见图1-6,如果A1、B1、C1、D1输入的密码与事先设置的密码A0、B0、C0、D0一样时,开锁灯亮;密码错误时,警报灯亮。元器件可以选择7486异或门、与非门、或门、非门、与门等,具体引脚图见指导书附录。

五、实验报告内容

1. 实验目的、内容、画出逻辑电路图。

图1-6 数字密码锁控

实验一 逻辑门电路功能测试与组合

2. 在电路图上标明接线时使用的集成块名称和引脚号,作为实验接线图。

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3. 按照实验操作过程记录、整理实验内容和结果,填好测试数据。分析、确认实验结

果的正确性,说明实验结论。

4. 对门电路转换实验,要求写出设计过程(转换公式) 。

5. 在实验总结中写上实验中遇到的问题,解决办法,体会、建议等,要求简洁、务实,

不用套话。


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