实验3—1 用光切显微镜测量表面粗糙度 一、实验目的
1. 了解用光切显微镜测量表面粗糙度的原理和方法。 2. 加深对粗糙度评定参数轮廓最大高度Rz 的理解。
二、实验内容
用光切显微镜测量表面粗糙度的Rz 值。
三、测量原理及计量器具说明
参看图1，轮廓最大高度Rz 是指在取样长度lr 内，在一个取样长度范围内，最大轮廓峰高Rp 与最大轮廓谷深Rv 之和称之为轮廓最大高度 。
即
Rz = Rp + Rv
图1 图2
光切显微镜能测量80~1μm 的粗糙度，用参数Rz 来评定。
光切显微镜的外形如图2所示。它由底座1、工作台2、观察光管3、投射光管11、支臂7和立柱8等几部分组成。
光切显微镜是利用光切原理来测量表面粗糙度的，如图3所示。被测表面为P 1、P 2阶梯表面，当一平行光束从450方向投射到阶梯表面上时，就被折成S 1和S 2两段。从垂直于
'和S 2'。同样，S 1和S 2之间光束的方向上就可在显微镜内看到S 1和S 2两段光带的放大象S 1
'和S 2'之间的距离h 1'。通过测量和计算，可求得被测表面的不平度高度 距离h 也被放大为S 1
h 。
图4为光切显微镜的光学系统图。由光源1发出的光，经聚光镜2、狭缝3、物镜4以
450方向投射到被测工件表面上。调整仪器使反射光束进入与投射光管垂直的观察光管内，经物镜5成象在目镜分划板上，通过目镜可观察到凹凸不平的光带（图5 b）。光带边缘即工件表面上被照亮了的h 1的放大轮廓象为h 1′，测量亮带边缘的宽度h 1′，可求出被测表面的不平度高度h 1：
'h
h 1＝h 1cos450＝1cos450
N
式中 N —物镜放大倍数。
图 3 图 4
为了测量和计算方便，测微目镜中十字线的移动方向（图5a ）和被测量光带边缘宽度h 1′成450斜角（图5b ），故目镜测微器刻度套筒上读数值h 1′与不平度高度的关系为：
'
h 1Nh ''＝ h 1 =020
cos 45cos 45""h 1cos 2450h 1
所以 h ＝ =
N 2N
1
＝C ，2N
C 为刻度套筒的分度值或称为换算系数，它与投射角α、目镜测微器的结构和物镜放大倍数有关。
（a ）
图 5
(b)
四、测量步骤
1. 根据被测工件表面粗糙度的要求，按表1选择合适的物镜组，分别安装在投射光管和观察光管的下端。
2. 接通电源。
3. 擦净被测工件，把它安放在工作台上，并使被测表面的切削痕迹的方向与光带垂直。当测量圆柱形工件时，应将工件置于V 型块上。
表1
4. 粗调节：参看图2，用手托住支臂7，松开锁紧螺钉9，缓慢旋转支臂调节螺母10，使支臂7上下移动，直到目镜中观察到绿色光带和表面轮廓不平度的影象（图5b ）。然后，将螺钉9固紧。要注意防止物镜与工件表面相碰，以免损坏物镜组。
5. 细调节：缓慢而往复转动调节手轮6，调焦环12和调节螺钉13，使目镜中光带最狭窄，轮廓影象最清晰并位于视场的中央。
6. 松开螺钉5，转动目镜测微器4，使目镜中十字线的一根线与光带轮廓中心线大致平行（此线代替平行于轮廓中线的直线）。然后，将螺钉5固紧。
7. 根据被测表面的粗糙度级别，按国家标准GB1031—68的规定选取取样长度和评定长度。
8. 旋转目镜测微器的刻度套筒，使目镜中十字线的一根线与光带轮廓一边的峰（或谷）相切，如图5b 实线所示，并从测微器读出被测表面的峰（或谷）的数值。在取样长度范围内测出最高点（最高的峰）和最低点（最低的谷）的数值。然后计算出R z 的数值。
9. 纵向移动工作台，在测量范围长度内，共测出n （n 一般取5）个取样长度的Rz 值，取它们的平均值作为被测表面的轮廓最大高度。按下式计算：
∑Rzi
Rz （平均）＝
i =1
n
n
10. 根据计算结果，判断被测表面粗糙度的适用性。 附：目镜测微器分度值C 的确定。
由前述可知，目镜测微器套筒上每一格刻度间距所代表的实际表面不平度高度的数值（分度值）与物镜放大倍率有关。由于仪器生产过程中的加工和装配误差，以及仪器在使用过程中可能产生的误差，会使物镜的实际倍率与表1所列的公称值之间有某些差异。因此，仪器在投入使用时以及经过较长时间的使用之后，或者在调修重新安装之后，要用玻璃标准
刻度尺来确定分度值C ，即确定每一格刻度间距所代表的不平度高度的实际数值。确定方法如下：
（1） 将玻璃标准刻度尺置于工作台上， 调节显微镜的焦距，并移动标准刻度尺，使在 目镜视场内能看到清晰的刻度尺刻线（图6）。
（2） 参看图2，松开螺钉5，转动目镜 测微器4，使十字线交点移动方向与刻度尺象 平行，然后固紧螺钉5。
（1） 按表2选定标准刻度尺线格数Z ，
将十字线焦点移至与某刻线重合（图6中实 图 6 线位置），读出第一次读数n 1。然后，将十字线焦点移动Z 格（图6中虚线位置），读出第
二次读数n 2，两次读数差为：
A ＝n 2 n 1
表2
C ＝
TZ
2A
式中 T ——标准刻度尺的刻度间距（10μm ）。
把从目镜测微器测得的十点读数的平均值h //乘上C 值，即可求得Rz 值：
Rz ＝Ch //
思 考 题
1 . 为什么只测量光带一边的最高点（峰）和最低点（谷）？ 2． 测量表面粗糙度还有哪些方法？其应用范围如何？
3． 用光切显微镜测量表面粗糙度为什么要确定分度值C ？如何确定？
实验3—1 用光切显微镜测量表面粗糙度 一、实验目的
1. 了解用光切显微镜测量表面粗糙度的原理和方法。 2. 加深对粗糙度评定参数轮廓最大高度Rz 的理解。
二、实验内容
用光切显微镜测量表面粗糙度的Rz 值。
三、测量原理及计量器具说明
参看图1，轮廓最大高度Rz 是指在取样长度lr 内，在一个取样长度范围内，最大轮廓峰高Rp 与最大轮廓谷深Rv 之和称之为轮廓最大高度 。
即
Rz = Rp + Rv
图1 图2
光切显微镜能测量80~1μm 的粗糙度，用参数Rz 来评定。
光切显微镜的外形如图2所示。它由底座1、工作台2、观察光管3、投射光管11、支臂7和立柱8等几部分组成。
光切显微镜是利用光切原理来测量表面粗糙度的，如图3所示。被测表面为P 1、P 2阶梯表面，当一平行光束从450方向投射到阶梯表面上时，就被折成S 1和S 2两段。从垂直于
'和S 2'。同样，S 1和S 2之间光束的方向上就可在显微镜内看到S 1和S 2两段光带的放大象S 1
'和S 2'之间的距离h 1'。通过测量和计算，可求得被测表面的不平度高度 距离h 也被放大为S 1
h 。
图4为光切显微镜的光学系统图。由光源1发出的光，经聚光镜2、狭缝3、物镜4以
450方向投射到被测工件表面上。调整仪器使反射光束进入与投射光管垂直的观察光管内，经物镜5成象在目镜分划板上，通过目镜可观察到凹凸不平的光带（图5 b）。光带边缘即工件表面上被照亮了的h 1的放大轮廓象为h 1′，测量亮带边缘的宽度h 1′，可求出被测表面的不平度高度h 1：
'h
h 1＝h 1cos450＝1cos450
N
式中 N —物镜放大倍数。
图 3 图 4
为了测量和计算方便，测微目镜中十字线的移动方向（图5a ）和被测量光带边缘宽度h 1′成450斜角（图5b ），故目镜测微器刻度套筒上读数值h 1′与不平度高度的关系为：
'
h 1Nh ''＝ h 1 =020
cos 45cos 45""h 1cos 2450h 1
所以 h ＝ =
N 2N
1
＝C ，2N
C 为刻度套筒的分度值或称为换算系数，它与投射角α、目镜测微器的结构和物镜放大倍数有关。
（a ）
图 5
(b)
四、测量步骤
1. 根据被测工件表面粗糙度的要求，按表1选择合适的物镜组，分别安装在投射光管和观察光管的下端。
2. 接通电源。
3. 擦净被测工件，把它安放在工作台上，并使被测表面的切削痕迹的方向与光带垂直。当测量圆柱形工件时，应将工件置于V 型块上。
表1
4. 粗调节：参看图2，用手托住支臂7，松开锁紧螺钉9，缓慢旋转支臂调节螺母10，使支臂7上下移动，直到目镜中观察到绿色光带和表面轮廓不平度的影象（图5b ）。然后，将螺钉9固紧。要注意防止物镜与工件表面相碰，以免损坏物镜组。
5. 细调节：缓慢而往复转动调节手轮6，调焦环12和调节螺钉13，使目镜中光带最狭窄，轮廓影象最清晰并位于视场的中央。
6. 松开螺钉5，转动目镜测微器4，使目镜中十字线的一根线与光带轮廓中心线大致平行（此线代替平行于轮廓中线的直线）。然后，将螺钉5固紧。
7. 根据被测表面的粗糙度级别，按国家标准GB1031—68的规定选取取样长度和评定长度。
8. 旋转目镜测微器的刻度套筒，使目镜中十字线的一根线与光带轮廓一边的峰（或谷）相切，如图5b 实线所示，并从测微器读出被测表面的峰（或谷）的数值。在取样长度范围内测出最高点（最高的峰）和最低点（最低的谷）的数值。然后计算出R z 的数值。
9. 纵向移动工作台，在测量范围长度内，共测出n （n 一般取5）个取样长度的Rz 值，取它们的平均值作为被测表面的轮廓最大高度。按下式计算：
∑Rzi
Rz （平均）＝
i =1
n
n
10. 根据计算结果，判断被测表面粗糙度的适用性。 附：目镜测微器分度值C 的确定。
由前述可知，目镜测微器套筒上每一格刻度间距所代表的实际表面不平度高度的数值（分度值）与物镜放大倍率有关。由于仪器生产过程中的加工和装配误差，以及仪器在使用过程中可能产生的误差，会使物镜的实际倍率与表1所列的公称值之间有某些差异。因此，仪器在投入使用时以及经过较长时间的使用之后，或者在调修重新安装之后，要用玻璃标准
刻度尺来确定分度值C ，即确定每一格刻度间距所代表的不平度高度的实际数值。确定方法如下：
（1） 将玻璃标准刻度尺置于工作台上， 调节显微镜的焦距，并移动标准刻度尺，使在 目镜视场内能看到清晰的刻度尺刻线（图6）。
（2） 参看图2，松开螺钉5，转动目镜 测微器4，使十字线交点移动方向与刻度尺象 平行，然后固紧螺钉5。
（1） 按表2选定标准刻度尺线格数Z ，
将十字线焦点移至与某刻线重合（图6中实 图 6 线位置），读出第一次读数n 1。然后，将十字线焦点移动Z 格（图6中虚线位置），读出第
二次读数n 2，两次读数差为：
A ＝n 2 n 1
表2
C ＝
TZ
2A
式中 T ——标准刻度尺的刻度间距（10μm ）。
把从目镜测微器测得的十点读数的平均值h //乘上C 值，即可求得Rz 值：
Rz ＝Ch //
思 考 题
1 . 为什么只测量光带一边的最高点（峰）和最低点（谷）？ 2． 测量表面粗糙度还有哪些方法？其应用范围如何？
3． 用光切显微镜测量表面粗糙度为什么要确定分度值C ？如何确定？