电霍尔效应及其应用

四川

实验时间:2009年11月15日

实验名称:电霍尔效应及其应用 成绩:

学号:[1**********]

实验目的: 班级:应物08级2班的

姓名:刘 春

1、了解霍尔效应的基本原理; 2、学习霍尔效应测量磁场;

3、学习用“对称测量法”消除副效应的影响,测量式样的VHIS和VHIM曲线;

实验仪器:

TH-H型霍尔效应实验组合仪。

实验原理:

将一块半导体或导体材料,沿Z方向加以磁场B,沿X方向通以工作电流I,则在Y方向

产生出电动势VH,如图1所示,这现象称为霍尔效应。VH称为霍尔电压。

(a) (b)

图1 霍尔效应原理图

实验表明,在磁场不太强时,电位差VH与电流强度I和磁感应强度B成正比,与板的厚度d成反比,即

IB

VHRH

d (1) 或 VHKHIB (2)

式(1)中RH称为霍尔系数,式(2)中KH称为霍尔元件的灵敏度,单位为mv / (mA·T)。产生霍尔效应的原因是形成电流的作定向运动的带电粒子即载流子(N型半导体中的载流子是带负电荷的电子,P型半导体中的载流子是带正电荷的空穴)在磁场中所受到的洛仑兹力作用而产生的。

如图1(a)所示,一快长为l、宽为b、厚为d的N型单晶薄片,置于沿Z轴方向的磁场B

中,在X轴方向通以电流I,则其中的载流子——电子所受到的洛仑兹力为 F=qVE (3)

式中V为电子的漂移运动速度,其方向沿X轴的负方向。e为电子的电荷量。F指向Y轴的负方向。自由电子受力偏转的结果,向A侧面积聚,同时在B侧面上出现同数量的正电荷,在两侧面

间形成一个沿Y轴负方向上的横向电场E(即霍尔电场),使运动电子受到一个沿Y轴正方向的电场力F,A、B面之间的电位差为VH(即霍尔电压),则 F=eU/b (4) 将阻碍电荷的积聚,最后达稳定状态时有

V

eVBeH

b 得 VHVBb (5) 此时B端电位高于A端电位。

若N型单晶中的电子浓度为n,则流过样片横截面的电流 I=nebdV

V

I得

nebd (6) 将(6)式代入(5)式得 V1IBH nedIBRHdKHIB

(7)

式中

R11Hne称为霍尔系数,它表示材料产生霍尔效应的本领大小;KH

ned称为霍尔元件的灵敏度,一般地说,KH愈大愈好,以便获得较大的霍尔电压VH。因KH和载流子浓度n成反比,而

半导体的载流子浓度远比金属的载流子浓度小,所以采用半导体材料作霍尔元件灵敏度较高。又因KH和样品厚度d成反比,所以霍尔片都切得很薄,一般d≈0.2mm。

数据表格:

1、测绘VHIS实验曲线数据记录VH(V2V3V1V4)/4

2、测绘VHIM实验曲线数据记录

实验步骤:

1、正确连接电路,调节霍尔元件处于隙缝的中间位置;

2、测量霍尔电流Is与霍尔电压VH的关系。令励磁电流IM=0.600mA,调节霍尔电流Is=1.00mA,2.00mA,„,8.00mA(每隔1.0mA改变一次),分别改变励磁电流和霍尔电流的方向,记录对应的霍尔电压;

3、测量励磁电流IM与霍尔电压VH的关系。令霍尔电流Is=3.00mA,调节励磁电流IM=0.3A,0.4A,„,0.8. A(每隔0.1A改变一次),分别改变励磁电流和霍尔电流的方向,记录对应的霍尔电压; 4、测量在零磁场,Is=2.00mA时AC两端电压; 5、在Is=2.00mA,IM=0.600mA时VH随X的变化值;

数据处理:

1、VH-Is曲线;

2、VH-IM曲线;

3计算电导率;

Is=2.00mA, V=142.3mV



IslIl

Vs SVbd

所以: 

21033103

142.31030.51034103

21.08 4、求RH、n、;



UHRIsBHRUHdB R0.620.5103dH

IsH0.654103VmBI20.3950.6/TA M

K

在这里可以通过对对VH-Is的散点分布进行拟合求其斜率来进行计算。 又因为: RH

1

nq

(q为电子电荷)  n

1R13.61019

9.561021 Hq0.654101ne

21.08

ne

9.56101.610

19

1.37810321 5、作VH-X 图;

VH-X

VH-X 图

误差分析:

产生误差的主要原因有:不等位电势和热能流引起的不等位电势,载流子速度的平均化处理,

各种效应会产生的电势差。霍尔系数时可以通过实验曲线的拟合来求,更为精确。

四川

实验时间:2009年11月15日

实验名称:电霍尔效应及其应用 成绩:

学号:[1**********]

实验目的: 班级:应物08级2班的

姓名:刘 春

1、了解霍尔效应的基本原理; 2、学习霍尔效应测量磁场;

3、学习用“对称测量法”消除副效应的影响,测量式样的VHIS和VHIM曲线;

实验仪器:

TH-H型霍尔效应实验组合仪。

实验原理:

将一块半导体或导体材料,沿Z方向加以磁场B,沿X方向通以工作电流I,则在Y方向

产生出电动势VH,如图1所示,这现象称为霍尔效应。VH称为霍尔电压。

(a) (b)

图1 霍尔效应原理图

实验表明,在磁场不太强时,电位差VH与电流强度I和磁感应强度B成正比,与板的厚度d成反比,即

IB

VHRH

d (1) 或 VHKHIB (2)

式(1)中RH称为霍尔系数,式(2)中KH称为霍尔元件的灵敏度,单位为mv / (mA·T)。产生霍尔效应的原因是形成电流的作定向运动的带电粒子即载流子(N型半导体中的载流子是带负电荷的电子,P型半导体中的载流子是带正电荷的空穴)在磁场中所受到的洛仑兹力作用而产生的。

如图1(a)所示,一快长为l、宽为b、厚为d的N型单晶薄片,置于沿Z轴方向的磁场B

中,在X轴方向通以电流I,则其中的载流子——电子所受到的洛仑兹力为 F=qVE (3)

式中V为电子的漂移运动速度,其方向沿X轴的负方向。e为电子的电荷量。F指向Y轴的负方向。自由电子受力偏转的结果,向A侧面积聚,同时在B侧面上出现同数量的正电荷,在两侧面

间形成一个沿Y轴负方向上的横向电场E(即霍尔电场),使运动电子受到一个沿Y轴正方向的电场力F,A、B面之间的电位差为VH(即霍尔电压),则 F=eU/b (4) 将阻碍电荷的积聚,最后达稳定状态时有

V

eVBeH

b 得 VHVBb (5) 此时B端电位高于A端电位。

若N型单晶中的电子浓度为n,则流过样片横截面的电流 I=nebdV

V

I得

nebd (6) 将(6)式代入(5)式得 V1IBH nedIBRHdKHIB

(7)

式中

R11Hne称为霍尔系数,它表示材料产生霍尔效应的本领大小;KH

ned称为霍尔元件的灵敏度,一般地说,KH愈大愈好,以便获得较大的霍尔电压VH。因KH和载流子浓度n成反比,而

半导体的载流子浓度远比金属的载流子浓度小,所以采用半导体材料作霍尔元件灵敏度较高。又因KH和样品厚度d成反比,所以霍尔片都切得很薄,一般d≈0.2mm。

数据表格:

1、测绘VHIS实验曲线数据记录VH(V2V3V1V4)/4

2、测绘VHIM实验曲线数据记录

实验步骤:

1、正确连接电路,调节霍尔元件处于隙缝的中间位置;

2、测量霍尔电流Is与霍尔电压VH的关系。令励磁电流IM=0.600mA,调节霍尔电流Is=1.00mA,2.00mA,„,8.00mA(每隔1.0mA改变一次),分别改变励磁电流和霍尔电流的方向,记录对应的霍尔电压;

3、测量励磁电流IM与霍尔电压VH的关系。令霍尔电流Is=3.00mA,调节励磁电流IM=0.3A,0.4A,„,0.8. A(每隔0.1A改变一次),分别改变励磁电流和霍尔电流的方向,记录对应的霍尔电压; 4、测量在零磁场,Is=2.00mA时AC两端电压; 5、在Is=2.00mA,IM=0.600mA时VH随X的变化值;

数据处理:

1、VH-Is曲线;

2、VH-IM曲线;

3计算电导率;

Is=2.00mA, V=142.3mV



IslIl

Vs SVbd

所以: 

21033103

142.31030.51034103

21.08 4、求RH、n、;



UHRIsBHRUHdB R0.620.5103dH

IsH0.654103VmBI20.3950.6/TA M

K

在这里可以通过对对VH-Is的散点分布进行拟合求其斜率来进行计算。 又因为: RH

1

nq

(q为电子电荷)  n

1R13.61019

9.561021 Hq0.654101ne

21.08

ne

9.56101.610

19

1.37810321 5、作VH-X 图;

VH-X

VH-X 图

误差分析:

产生误差的主要原因有:不等位电势和热能流引起的不等位电势,载流子速度的平均化处理,

各种效应会产生的电势差。霍尔系数时可以通过实验曲线的拟合来求,更为精确。


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