XRD晶粒尺寸分析

很多人都想算算粒径有多大。

其实,我们专业的术语不叫粒径,而叫“亚晶尺寸”,它表征的并不是一个颗粒的直径。

A。这么说吧,粉末由很多“颗粒”组成,每个颗粒由很多个“晶粒”聚集而成,一个晶粒由很多个“单胞”拼接组成。X射线测得的晶块尺寸是指衍射面指数方向上的尺寸,如果这个方向上有M个单胞,而且这个方向上的晶面间距为d,则测得的尺寸就是Md。如果某个方向(HKL)的单胞数为N,晶面间距为d1,那么这个方向的尺寸就是Nd1。由此可见,通过不同的衍射面测得的晶块尺寸是不一定相同的。

B 如果这个晶粒是一个完整的,没有缺陷的晶粒,可以将其视为一个测试单位,但是,如果这个晶粒有缺陷,那它就不是一个测试单位了,由缺陷分开的各个单位称为“亚晶”。比如说吧,如果一个晶粒由两个通过亚晶界的小晶粒组成(称为亚晶),那么,测得的就不是这个晶粒的尺寸而是亚晶的尺寸了。

C 为什么那么多人喜欢抛开专业的解释而用“粒径”这个词呢?都是“纳米材料”惹的祸。纳米晶粒本来就很小,一般可以认为一个纳米晶粒中不再存在亚晶,而是一个完整的晶粒,因此,亚晶尺寸这个术语就被套用到纳米晶粒的“粒径”上来了。实际上,国家对于纳米材料的粒径及粒径分布的表征是有标准的,需要用“小角散射”方法来测量。比如,北京钢铁研究总院做这个就做了很长时间。但是呢,一则,做小角散射的地方还不多,做起来也特别麻烦(现在好一些了,特别是对光能自动一些了),所以,很少有人去做,而且,用衍射峰宽计算出来的“粒径”总是那么小,何乐而不为呢?我私下地觉得吧,这些人在偷换概念。久而久之,大家也就接受了。

为了这个事吧,有些人就问了,既然做出来的纳米材料的“粒径”是这么小,那么有没有办法在做SEM或TEM时将团聚在一起的小晶粒分开呢?确实分不开,分得开的是一个个的晶粒,分不开的是亚晶。

D 至于为什么通过衍射峰宽测出来的“粒径”为什么总是那么小,还有一个原因。实际上吧,使衍射峰变宽的原因可能有两个,一是晶粒变小了,另一个原因是晶粒内部存在“微观应变”。打个比方吧,甲乙两个人同时做一件事,结果把功劳算到甲一个人头上,当然这个人的功劳就大了(功能劳大就峰宽,峰越宽晶粒就越细)。有时候发现,有个别人在有意无意地避口不谈乙的功劳。

E 为什么允许将亚晶尺寸称为“粒径”呢?称为径,必假定晶粒为“球形”,从而假定了不论从哪个晶面去测都会是相同的,即忽略了 A 所说的那种差别。事实上,这种不同方向的尺寸差异在很多情况下确实可以忽略。但是,也有一些特殊情况是不可以的。下面我们再谈。

注意这两个假定,这就是为什么很多人都说,XRD测出来的粒径不可靠,总是小于SEM和TEM量出来的值。因为概念都不相同,它们怎么可能相同呢?

既然大家都说是粒径,那么要怎么样来算粒径呢?

我们先来看一个简单的问题。

怎么做拟合?

我们并不需要对所有的峰都做拟合,也不能用“全谱自动拟合”,正确的方法是做单峰拟合。

今天有同学发过来一个数据,看看。

当晶粒细化时,衍射峰就会变宽,随之而来的是强度降低,峰就不那么好看了,做拟合时有三点要注意:

1)并不需要选择全部的峰来参与计算,如果某个峰长得不好,宁可不要这个峰的数据;

2)做单峰拟合,有的同学不管三七二十一,一个拟合按钮按下去,自动去算吧,结果当然是错误的;

3)如果有重叠峰,可以先将重叠峰分离,但最后最好将其去掉,软件自动分解重叠峰的效果可能并不是令人满意的。

这里,拟合分作两段,只用到六个峰。特别是一些背底不平的情况,尤其要如此。

看看拟合结果,每个晶面计算出来的晶粒尺寸差不了多少,说明:

1)确实不存在微应变;

2)晶粒基本上是球形。

既然这样,那么计算粒径的时候只要一个峰不是也差不离吗?确实是这样的,如果能假定样品中不存在微观应变,用一个低角度的峰来计算晶粒尺寸就可以了,没有必要用很多峰,很多峰算出来不就是“平均粒径”吗?

按下上面那个窗口中的“Size & Strain”按钮,弹出上面的窗口,发现这些数据点基本上落在一条水平线上,那么选择“Size Only”,得到了“平均粒径”。

我们再来玩玩这个样品。将这个样品做一点处理,比如加热烧一会,会得到怎么样的衍射谱呢?

这个图比上面那个图好看多了,为什么呢?因为峰明显变窄了,窄了也就高了,高了也就掩盖误差了。

注意,尽管这个图长得这么好,我们还是做单峰拟合,不厌其烦地,任劳任怨地一个峰一个峰地做拟合。

有点意思了,看看XS下面的数据,从衍射角由低到高的顺序,XS值是由大到小(除了最后两个例外)。点下“Size & Strain”,看看,这些数据点落在一条斜线上。而且还不过原点。在纵坐标上的截距大于0,这就说明,这个峰变宽,有你的一半也有我的一半。

计算的结果可以从图上看得清(吧?)

那么,最后两个点,为什么会突然变大了呢?都是重叠峰惹的祸。注意,上面的谱图可以清楚看到,最后两个点的数据是分离重叠峰得到的。

怎么办呢?去掉呀,在图上的红点上用鼠标点一下,红点就消失了,这个数据点被舍弃。如果舍弃一个点还不满足,干脆再去掉一个点吧。没什么大不了的。

个别的时候,也需要选择“Strain only”,这时,数据点的特征是:

1)在一条斜线上;

2)斜线过原点,甚至截距为负数(总不可能弄个负的晶粒尺寸吧?)

注意了,这么计算粒径时是有假定的,即晶粒(或者亚晶)是“球形”,至少是近似球形吧。

也有个别的时候它就一个球。你还去套用这个方法,肯定就是你的错误了。这时候往往会得出这样的结论:

1)晶粒尺寸是负的;

2)或者微观应变是负的。

别说我是瞎扯,我就发现过已经发表的论文中的数据说微观应变是负数。所谓微观应变是指“晶粒内部晶面间距相对于原始尺寸的变化起伏”,不可能伏下去就不起来了。

出现这种现象,可能的原因是:

1) 你的数据做得实在太差了,延长点扫描时间来做,多花点米米(心痛)好不好。

2)晶粒形状确实不是个“球”,哪怕是个混球!

你说,这个图谱,不同的峰宽明显不同,而且还似乎没有规律,你还按球形来做,那么,真是扯球了。

对付这种问题,还是有办法的,既然不同方向的尺寸不同,那么同一方向的总相同吧,所以,选择相同方向的不同级指数来做角析是可以的,李树棠老师的《晶体X射线衍射学基础》(现在这种经典的书真少见了)上有例子。再就是用“Rietveld全谱拟合精修”也可以解决它。

最后,还说一种情况,样品中有几个物相,那么就不能当作一个物相来处理了。应当分别计算(分别拟合单峰或者先将各个峰拟合再去掉其它相的峰拟合数据),否则就是胡子眉毛一把抓了。

最后的最后还有一句话,有的人仅仅是听说有个什么软件可以处理XRD数据,也不看说明书,也不看教科书,以为玩玩具一样就可以把数据处理好(实在不行的时候,问一下同学),这是不可能的。

PS: 本文为转载,仅供参考学习,如有其他问题,表咨询我哈,因为我也不懂 :D

很多人都想算算粒径有多大。

其实,我们专业的术语不叫粒径,而叫“亚晶尺寸”,它表征的并不是一个颗粒的直径。

A。这么说吧,粉末由很多“颗粒”组成,每个颗粒由很多个“晶粒”聚集而成,一个晶粒由很多个“单胞”拼接组成。X射线测得的晶块尺寸是指衍射面指数方向上的尺寸,如果这个方向上有M个单胞,而且这个方向上的晶面间距为d,则测得的尺寸就是Md。如果某个方向(HKL)的单胞数为N,晶面间距为d1,那么这个方向的尺寸就是Nd1。由此可见,通过不同的衍射面测得的晶块尺寸是不一定相同的。

B 如果这个晶粒是一个完整的,没有缺陷的晶粒,可以将其视为一个测试单位,但是,如果这个晶粒有缺陷,那它就不是一个测试单位了,由缺陷分开的各个单位称为“亚晶”。比如说吧,如果一个晶粒由两个通过亚晶界的小晶粒组成(称为亚晶),那么,测得的就不是这个晶粒的尺寸而是亚晶的尺寸了。

C 为什么那么多人喜欢抛开专业的解释而用“粒径”这个词呢?都是“纳米材料”惹的祸。纳米晶粒本来就很小,一般可以认为一个纳米晶粒中不再存在亚晶,而是一个完整的晶粒,因此,亚晶尺寸这个术语就被套用到纳米晶粒的“粒径”上来了。实际上,国家对于纳米材料的粒径及粒径分布的表征是有标准的,需要用“小角散射”方法来测量。比如,北京钢铁研究总院做这个就做了很长时间。但是呢,一则,做小角散射的地方还不多,做起来也特别麻烦(现在好一些了,特别是对光能自动一些了),所以,很少有人去做,而且,用衍射峰宽计算出来的“粒径”总是那么小,何乐而不为呢?我私下地觉得吧,这些人在偷换概念。久而久之,大家也就接受了。

为了这个事吧,有些人就问了,既然做出来的纳米材料的“粒径”是这么小,那么有没有办法在做SEM或TEM时将团聚在一起的小晶粒分开呢?确实分不开,分得开的是一个个的晶粒,分不开的是亚晶。

D 至于为什么通过衍射峰宽测出来的“粒径”为什么总是那么小,还有一个原因。实际上吧,使衍射峰变宽的原因可能有两个,一是晶粒变小了,另一个原因是晶粒内部存在“微观应变”。打个比方吧,甲乙两个人同时做一件事,结果把功劳算到甲一个人头上,当然这个人的功劳就大了(功能劳大就峰宽,峰越宽晶粒就越细)。有时候发现,有个别人在有意无意地避口不谈乙的功劳。

E 为什么允许将亚晶尺寸称为“粒径”呢?称为径,必假定晶粒为“球形”,从而假定了不论从哪个晶面去测都会是相同的,即忽略了 A 所说的那种差别。事实上,这种不同方向的尺寸差异在很多情况下确实可以忽略。但是,也有一些特殊情况是不可以的。下面我们再谈。

注意这两个假定,这就是为什么很多人都说,XRD测出来的粒径不可靠,总是小于SEM和TEM量出来的值。因为概念都不相同,它们怎么可能相同呢?

既然大家都说是粒径,那么要怎么样来算粒径呢?

我们先来看一个简单的问题。

怎么做拟合?

我们并不需要对所有的峰都做拟合,也不能用“全谱自动拟合”,正确的方法是做单峰拟合。

今天有同学发过来一个数据,看看。

当晶粒细化时,衍射峰就会变宽,随之而来的是强度降低,峰就不那么好看了,做拟合时有三点要注意:

1)并不需要选择全部的峰来参与计算,如果某个峰长得不好,宁可不要这个峰的数据;

2)做单峰拟合,有的同学不管三七二十一,一个拟合按钮按下去,自动去算吧,结果当然是错误的;

3)如果有重叠峰,可以先将重叠峰分离,但最后最好将其去掉,软件自动分解重叠峰的效果可能并不是令人满意的。

这里,拟合分作两段,只用到六个峰。特别是一些背底不平的情况,尤其要如此。

看看拟合结果,每个晶面计算出来的晶粒尺寸差不了多少,说明:

1)确实不存在微应变;

2)晶粒基本上是球形。

既然这样,那么计算粒径的时候只要一个峰不是也差不离吗?确实是这样的,如果能假定样品中不存在微观应变,用一个低角度的峰来计算晶粒尺寸就可以了,没有必要用很多峰,很多峰算出来不就是“平均粒径”吗?

按下上面那个窗口中的“Size & Strain”按钮,弹出上面的窗口,发现这些数据点基本上落在一条水平线上,那么选择“Size Only”,得到了“平均粒径”。

我们再来玩玩这个样品。将这个样品做一点处理,比如加热烧一会,会得到怎么样的衍射谱呢?

这个图比上面那个图好看多了,为什么呢?因为峰明显变窄了,窄了也就高了,高了也就掩盖误差了。

注意,尽管这个图长得这么好,我们还是做单峰拟合,不厌其烦地,任劳任怨地一个峰一个峰地做拟合。

有点意思了,看看XS下面的数据,从衍射角由低到高的顺序,XS值是由大到小(除了最后两个例外)。点下“Size & Strain”,看看,这些数据点落在一条斜线上。而且还不过原点。在纵坐标上的截距大于0,这就说明,这个峰变宽,有你的一半也有我的一半。

计算的结果可以从图上看得清(吧?)

那么,最后两个点,为什么会突然变大了呢?都是重叠峰惹的祸。注意,上面的谱图可以清楚看到,最后两个点的数据是分离重叠峰得到的。

怎么办呢?去掉呀,在图上的红点上用鼠标点一下,红点就消失了,这个数据点被舍弃。如果舍弃一个点还不满足,干脆再去掉一个点吧。没什么大不了的。

个别的时候,也需要选择“Strain only”,这时,数据点的特征是:

1)在一条斜线上;

2)斜线过原点,甚至截距为负数(总不可能弄个负的晶粒尺寸吧?)

注意了,这么计算粒径时是有假定的,即晶粒(或者亚晶)是“球形”,至少是近似球形吧。

也有个别的时候它就一个球。你还去套用这个方法,肯定就是你的错误了。这时候往往会得出这样的结论:

1)晶粒尺寸是负的;

2)或者微观应变是负的。

别说我是瞎扯,我就发现过已经发表的论文中的数据说微观应变是负数。所谓微观应变是指“晶粒内部晶面间距相对于原始尺寸的变化起伏”,不可能伏下去就不起来了。

出现这种现象,可能的原因是:

1) 你的数据做得实在太差了,延长点扫描时间来做,多花点米米(心痛)好不好。

2)晶粒形状确实不是个“球”,哪怕是个混球!

你说,这个图谱,不同的峰宽明显不同,而且还似乎没有规律,你还按球形来做,那么,真是扯球了。

对付这种问题,还是有办法的,既然不同方向的尺寸不同,那么同一方向的总相同吧,所以,选择相同方向的不同级指数来做角析是可以的,李树棠老师的《晶体X射线衍射学基础》(现在这种经典的书真少见了)上有例子。再就是用“Rietveld全谱拟合精修”也可以解决它。

最后,还说一种情况,样品中有几个物相,那么就不能当作一个物相来处理了。应当分别计算(分别拟合单峰或者先将各个峰拟合再去掉其它相的峰拟合数据),否则就是胡子眉毛一把抓了。

最后的最后还有一句话,有的人仅仅是听说有个什么软件可以处理XRD数据,也不看说明书,也不看教科书,以为玩玩具一样就可以把数据处理好(实在不行的时候,问一下同学),这是不可能的。

PS: 本文为转载,仅供参考学习,如有其他问题,表咨询我哈,因为我也不懂 :D


相关内容

  • XRD定量分析方法
  •  高聚物晶体X射线衍射 大的结晶聚合物单晶(0.1 mm以上,除蛋白质 外)很难得到,一般采用多晶或单轴.双轴聚向聚 合物材料样品. 随着2 增大,衍射斑点增宽,强度下降,衍射峰 主要出现在30°以下的低角区.由于晶粒尺寸很小 (一般小于30 nm ),结晶不完善,衍射图较弥散, 谱线复杂.聚合 ...

  • 超声功率对激光熔覆Fe
  • 超声功率对激光熔覆Fe-Cr-V-C系涂层组织与性能的影响 沈言锦1, 李雪丰2, 陈学永3 (1. 湖南大学 材料科学与工程学院,长沙 410000: 2. 江西昌河铃木汽车有限责任公司,九江 332005: 3. 中建五局第三建设有限公司,长沙 410004) 摘 要:采用激光熔覆方法在基体表面 ...

  • 取向硅钢二次再结晶过程
  • 低温板坯加热取向硅钢二次再结晶过程研究 ·1· 低温板坯加热取向硅钢二次再结晶过程研究 李 军1 赵 宇1 方建锋2 (1. 安泰科技股份有限公司功能材料事业部,北京 100081; 2. 钢铁研究总院,北京 100081) 摘 要 低温板坯加热方式生产取向硅钢与传统1350℃高温工艺相比具有减少能 ...

  • 钛酸锶纳米颗粒的水热合成与表征
  • 第丸器纯掌蘸洽学瓣赣孥学者辑谣会会议论文集 钛酸锶纳米颗粒的水热合成与表钲 张士成'李星国 (北京大学稀土材料化学及应用园家重点实验室,北京100871) 隘翱采蒲永蒸法铺备了铰黢锶缩来鬏毅,并翔TEM,XRD,限.翔碍等筝寝对幂陵溢度下 合成的钛酸锶纳米额控的粒度.影貌.结槐.成分避行了表征. [ ...

  • 直接氮化法制备AlN粉的工艺研究与性能表征
  • 第30卷第6期 2011年12月硅酸盐通报BULLETIN OF THE CHINESE CERAMIC SOCIETY Vol.30No.6December ,2011 直接氮化法制备AlN 粉的工艺 研究与性能表征 112乐红志,田贵山,崔唐茵 (1.山东理工大学材料科学与工程学院,淄博2550 ...

  • 纳晶铜晶粒尺寸对热导率的影响
  • 纳晶铜晶粒尺寸对热导率的影响刘英光张士兵韩中合赵豫晋 Influence of grain size on the thermal conduction of nanocrystalline copper Liu Ying-Guang Zhang Shi-Bing Han Zhong-He Zhao ...

  • 高锰钢加工硬化
  • 铸造技术 FOUNDRYTECHNoLoGY V01.29NO.11NOV.2008 ・试验研究 Research・, 高锰钢加工硬化 严伟林l'2,方 亮2,郑战光1 (1.广西大学机械工程学院,广西南宁530004:2.西安交通大学金属材料强度国家重点实验室,陕西西安710049) 摘要:利用传 ...

  • 有源层厚度对ZnO薄膜晶体管电学性能的影响(论文)
  • 华南理工大学学报(自然科学版) 第41卷第9期JournalofSouthChinaUniversityofTechnology V01.41No.92013年9月 (NaturalScienceEdition) September 2013 文章编号:1000-565X(2013)09-0023- ...

  • ITO薄膜厚度和含氧量对其结构与性能的影响
  • 第26卷 第7期 电子元件与材料 V ol.26 No.72007年7月 ELECTRONIC COMPONENTS AND MATERIALS Jul. 2007 与ITO 薄膜厚度和含氧量对其结构与性能的影响 辛荣生1,林 钰2 (1. 郑州大学 材料科学与工程学院,河南 郑州 450052:2 ...