轴承内径测量方法的研究

第31卷第1期2005年1月

中国测试技术

CHINAMEASUREMENT

V01.31No.1

7IECHNOIoGY

Jan,2005

轴承内径测量方法的研究

李永怀,崔建英,冯其波

(北京交通大学理学院,北京100044)

摘要:提出一种轴承内径的测量方法和总体方案,实现了高精度、智能化的测量,减小了人工测量误差,具有很高的实用性。

关键词:轴径测量;瞄准与定位;自动测量中图分类号:TP271+.4

文献标识码:A

文章编号:1672.4984(2005)01—0039.02

study

Oil

b.翘痂唱innerdiametermeasurementmethod

LIYong-huai,CUI

Jian-ying,FENGQi-bo

(School

of

Science,BeijingJiaotangUniversity,Beijing100044,China)

beariIlg

innerdiameter

is

developedand

to

舢曲碱A

newmethod

can

tomeasure

thecomposition

of

the

measuresystemis

described.Thesystem

locateand

measureautomaticallyandsuit

beusedinproductionfield.

Keywords:Diametermeasurement;Locationandcollimation;Automaticmeasurement

随着现代铁路运输的发展,火车运行速度越来越快,对轮轴的配合提出了更高要求,而高精度、智能化的轮轴直径测量是实现理想配合的重要因素。目前,铁路检修现轴承直径场广泛使用的是传统的内径千分尺…,这种测量工具精度低,随机误差大,自动化程度低,已不能满足高精度测量的要求。非接触测量法怛1如激光扫描、CCD影像法等,测量范围小,而且精度不高。因此,一种高精度、智能化轴承内径测量系统的研制,对于提高铁路现场的检修效

率和技术管理水平,具有重要意义。

测量臂3与轴承端面平行,垂直于轴线,瞄准直径,实现轴向的定位。

1.2误差分析

由于加工和安

/L‘入

rt

装精度的限制,使

得图1中测量臂不能完全瞄准直径,产生了定位误差,

\\一y

图1径向定位原理

从而给测量带来误

差。图3对这种定

l测量原理及系统实现方案

1.1测量原理

内径的测量有两个关键问题,一是直径的瞄准与定位,二是两瞄准点间距离的测量,本文利用二个相互垂直的机构实现直径的瞄准,由微位移传感器测量瞄准点处直径的变化,如图1所示,1是定位

臂,2是测量臂,测量臂在定位臂的中垂线上,使测

位误差进行了分析,其中,6为测量臂对圆心的偏移量,D。、D2分别为标准件、被测件的直径,rl、r2分别为其对应的半径,S。、S2分

别是标准件、被测件的传

\刀

感器示值,由几何关系可

知:

量臂瞄准直径,实现径向的定位。测量臂上安装微位移传感器测量时,分别测标准件与被测件,微位移传感器测出二者的差值△s,而标准件的值是已知的,则D测=D标+△s,得到被测件的值。测量和定位臂可整体在圆平面内旋转,测任一方向的直径值。

图2是轴向定位示意图,通过定位机构4的连接,使

图2轴向定位原理

Sl=2 ̄/rl2一艿2S2=2 ̄/F22一艿2

由于由于鱼<<1,鱼<<1旦<<,旦<<

/-1

/-2

(1)(2)(3)(4)

则Js。:2rl

收稿日期:2004.07—12:收到修改稿日期:2004—09.16

1一要)

万方数据 

中国测试技术

2005年1月

——斗

_

●一

-^

/厂

l\\

Dl

ti

f7

Sl

///、

.\\

l\\

∥/

图3径向定位误差分析

耻2r2(,一嘉)

(5)

△。-s2_-2(”∽一(苦一鲁)(6)

测量值:

D72=D1+△s

(7)

测量误差为:

AD2=D7z—Dz=等一鲁

(8)

此外,在轴向测量臂与轴线不可能完全垂直,而是有

一定的角度误差,如图4所示,设a为测量臂与轴承端面的夹角,D。、D2分别为标准件、被测件的直径,由几何关系,同理可求得轴向定位产生的测量误差

为:

AD7:=(D:一D1)(掣)

(9)

由于a很小,所以:

上:1+_1_a2+…

(10)

略去高阶小量:

AD7::(D:一D。)鲁

一(11)

则系统总的测量误差:

AD= ̄/AD;+AD722(12)

取a=1。,D,jD2、8分别取值,带入式(12),计算测量

误差,如表1所示。

表1计算测量误差

从表1可以看出,在测量范围130±lmm内,误差为△D=0.19pan。在实际铁路检修现场,被测的轴承通常为197726型轴承,其公差为巾1~+0咖,即直径变化在50tan内,实际测量中直径的变化不会

万 

方数据超出±lmm的范围;而

且机构的定位误差可

控制在上述的8和d内,故由定位带来的测

量误差应小于0.19tan,这个精度完全可以满足测量的要求,所以该测量方法理论上是可

图4轴向定位误差分析

行的。

1.3系统的实现

按照上述测量原理,设计系统的定位机构和整

体实现方案,如图5所示。轴承直径得变化引起安装在定位机构上传感器输出电压得变化,传感器电

压信号经前置滤波放大后,单片机完成的数据采集

与存储,由液晶显示屏实时显示,功能键盘完成标

定,测量等功能。单片机可以通过RS一232与PC通

信,完成数据的传送。

图5系统实现方案

表2测量数据

2实验结果及结论

按照图5系统组成方案,设计了轴承内径测量仪,并对一标准轴承孔进行了测量,实验结果如表2

所示,从测量数据可以看出,六次测量的平均值接近

真值;两个截面测量的最大误差分别为0.6胛、0.9脚,大于理论计算值,这是由于传感器本身的非线

性、A/D转换过程、测量力、温度等因素(下转第71页)

第31卷第1期张必超等:嵌入式DRAM的BIST测试方法的研究71

数据和该数据的参数扩展的一个eDRAM模型。为对设计阶段制作的缺陷较少的芯片,该方法更加有

了使仿真时间减少,这个模型必须是一个完全模型效。的精简。它是评估一系列不同测试条件的代表。第4.3应用

二步是开发一个对相关单元阵测试的适当描述。这按上述测试方案,我们在J750K集成电路测试就意味着对APG或存储ATE适用的测试图形码必系统上,通过其提供的存储器测试选件(MTO)实现须转化成上述eDRAM核模型适用的形式。第三,根了对嵌入式DRAM的BIST测试。通过BIST控制据eDRAM核模型的具体结构不同,为了激发一个测器,利用4位诊断总线来捕获16位存储器数据,至试图形中给定的命令序列,必须产生一些外部少要执行4次完整的测试才能捕获到所有的存储器eDRAM核信号。为了激发测试,还必须定义一套测位图。而我们借助MTO可以按一定的算法生成试条件,如温度范围。这个方法可用来找到一个测BIST所需的测试向量,减少了产生测试向量图形的试的边界条件以在使用第一片硅片之前优化时间。同时,有了MTO就可以降低传统测试对测试eDRAM测试。当然,进一步的优化也许是需要的,图形存储器大容量的要求。

但与传统的DRAM测试开发流程相比,反复的次数

5结束语

将明显减少。

本文讨论了测试系统芯片(SOC)上的嵌入式

4.2该方案的原理及优点

DRAM的传统方法和BIST测试策略,简单介绍了嵌如图2所示,该方案采用小型诊断数据总线,多入式DRAM的BIST测试方案,认为BIST方法将成

次重复BIST测试操作,图中的“BIST开”处于开时,为集成电路的主流测试技术。因为随着微电子工艺

就进行一次测试操作,每次操作可检查不同片的存和技术以及通信技术的发展,特别是半导体存储器、储器输出。它在被测电路不能通过初始产品测试时中央微处理器、数字信号处理器和可编程逻辑器件

执行诊断模式。处于诊断模式时,BIST控制器执行的需求量越来越大,性能要求也越来越高,并且,随

完整的测试,一片存储器输出多路开关在诊断数据着系统芯片的日益普及,测试成本正呈现出增加的总线上。重复上述测试,不同片的数据就被捕获在趋势。为了保持较低的测试成本,未来的测试将会诊断数据总线上,直到全部存储器输出都被捕获。

是完全BIST,它已经在存储器测试、通信系统测试等方面与扫描测试结合并成功应用,它的优势已经突显出来。可以预期,基于BIST的测试技术的发展和完善是VLSI制造业面临的一项重要课题,它将为VLSI电路的研究和发展带来更加广阔的应用前景。

参考文献

[1]AndreasSteininger.Testingandbuilt—inself-test--Asurvey

EJ].JournalofSystemsArchitecture,2000,46:721—747.

[2]刘建都.嵌入式系统的在线自测试技术[J].电子技

图2

BIST测试方案原理框图

术,2000,26:45—51.

该方法保证附加的应用时间最短。总的测试时[3]吴德馨,钱鹤,叶甜春,等.现代微电子技术[M].北

京:化学工、世出版社,2002.

司取决于测试中的失败次数,器件之间各不相同。

….・1…}_一・。…l_-・-+…l_・+。…‘lH‘。¨.o._…¨………l・‘¨l………-。……’……-・。’…l_--“…l-・-’¨l…一。¨.…・。ll

(上接第40页)

用价值。

也带来了测量误差,而定位引起的测量误差是误差参考文献

的主要来源。系统的最大测量误差0.9tma小于检

[1]张桂青,等.铁路货车滚动轴承、轴颈测量与选配系统

修允许的极限误差8tan_3J,完全可以用于生产现场。

的开发研制[J].铁道机车车辆,2001,3:11—13.综上,本测量方法原理简单,系统对定位误差[2]冯其波.激光高精度测量大型工件内外径方法和系统

6、a的精度要求低,容易仪器化;测量系统体积小,的研究[D].清华大学博士论文,1993.

便携,实现了高精度、智能化,与软件配套使用,可以[3]王晓政,等.关于车辆滚动轴承车轴轴径直径量仪的

使用[J].铁道车辆,1994,4:57—58.

极大的提高现场的检修效率和质量,具有很高的实

万 

方数据

轴承内径测量方法的研究

作者:作者单位:刊名:英文刊名:年,卷(期):引用次数:

李永怀, 崔建英, 冯其波

北京交通大学理学院,北京,100044中国测试技术

CHINA MEASURKEMENT TECHNOLOGY2005,31(1)1次

参考文献(3条)

1.张桂青.孙善庆.姚忠贵 铁路货车滚动轴承、轴颈测量与选配系统的开发研制[期刊论文]-铁道机车车辆 2001(3)2.冯其波 激光高精度测量大型工件内外径方法和系统的研究[学位论文] 19933.王晓政 关于车辆滚动轴承车轴轴径直径量仪的使用 1994(4)

相似文献(1条)

1.期刊论文 李永怀.崔建英.冯其波 新型轴颈测量系统的研制 -铁道车辆2004,42(9)

提出了一种用V形槽定位测量轴径的方法,并给出了系统总体方案.该方案实现了轴颈的自动定位和测量,减小了人工测量误差,实用性较强.

引证文献(1条)

1.王勇峰.刘文波 轴承内径在线检测仪的设计与误差分析[期刊论文]-机械工程师 2007(11)

本文链接:http://d.g.wanfangdata.com.cn/Periodical_zgcsjs200501014.aspx

下载时间:2010年4月23日

第31卷第1期2005年1月

中国测试技术

CHINAMEASUREMENT

V01.31No.1

7IECHNOIoGY

Jan,2005

轴承内径测量方法的研究

李永怀,崔建英,冯其波

(北京交通大学理学院,北京100044)

摘要:提出一种轴承内径的测量方法和总体方案,实现了高精度、智能化的测量,减小了人工测量误差,具有很高的实用性。

关键词:轴径测量;瞄准与定位;自动测量中图分类号:TP271+.4

文献标识码:A

文章编号:1672.4984(2005)01—0039.02

study

Oil

b.翘痂唱innerdiametermeasurementmethod

LIYong-huai,CUI

Jian-ying,FENGQi-bo

(School

of

Science,BeijingJiaotangUniversity,Beijing100044,China)

beariIlg

innerdiameter

is

developedand

to

舢曲碱A

newmethod

can

tomeasure

thecomposition

of

the

measuresystemis

described.Thesystem

locateand

measureautomaticallyandsuit

beusedinproductionfield.

Keywords:Diametermeasurement;Locationandcollimation;Automaticmeasurement

随着现代铁路运输的发展,火车运行速度越来越快,对轮轴的配合提出了更高要求,而高精度、智能化的轮轴直径测量是实现理想配合的重要因素。目前,铁路检修现轴承直径场广泛使用的是传统的内径千分尺…,这种测量工具精度低,随机误差大,自动化程度低,已不能满足高精度测量的要求。非接触测量法怛1如激光扫描、CCD影像法等,测量范围小,而且精度不高。因此,一种高精度、智能化轴承内径测量系统的研制,对于提高铁路现场的检修效

率和技术管理水平,具有重要意义。

测量臂3与轴承端面平行,垂直于轴线,瞄准直径,实现轴向的定位。

1.2误差分析

由于加工和安

/L‘入

rt

装精度的限制,使

得图1中测量臂不能完全瞄准直径,产生了定位误差,

\\一y

图1径向定位原理

从而给测量带来误

差。图3对这种定

l测量原理及系统实现方案

1.1测量原理

内径的测量有两个关键问题,一是直径的瞄准与定位,二是两瞄准点间距离的测量,本文利用二个相互垂直的机构实现直径的瞄准,由微位移传感器测量瞄准点处直径的变化,如图1所示,1是定位

臂,2是测量臂,测量臂在定位臂的中垂线上,使测

位误差进行了分析,其中,6为测量臂对圆心的偏移量,D。、D2分别为标准件、被测件的直径,rl、r2分别为其对应的半径,S。、S2分

别是标准件、被测件的传

\刀

感器示值,由几何关系可

知:

量臂瞄准直径,实现径向的定位。测量臂上安装微位移传感器测量时,分别测标准件与被测件,微位移传感器测出二者的差值△s,而标准件的值是已知的,则D测=D标+△s,得到被测件的值。测量和定位臂可整体在圆平面内旋转,测任一方向的直径值。

图2是轴向定位示意图,通过定位机构4的连接,使

图2轴向定位原理

Sl=2 ̄/rl2一艿2S2=2 ̄/F22一艿2

由于由于鱼<<1,鱼<<1旦<<,旦<<

/-1

/-2

(1)(2)(3)(4)

则Js。:2rl

收稿日期:2004.07—12:收到修改稿日期:2004—09.16

1一要)

万方数据 

中国测试技术

2005年1月

——斗

_

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-^

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l\\

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图3径向定位误差分析

耻2r2(,一嘉)

(5)

△。-s2_-2(”∽一(苦一鲁)(6)

测量值:

D72=D1+△s

(7)

测量误差为:

AD2=D7z—Dz=等一鲁

(8)

此外,在轴向测量臂与轴线不可能完全垂直,而是有

一定的角度误差,如图4所示,设a为测量臂与轴承端面的夹角,D。、D2分别为标准件、被测件的直径,由几何关系,同理可求得轴向定位产生的测量误差

为:

AD7:=(D:一D1)(掣)

(9)

由于a很小,所以:

上:1+_1_a2+…

(10)

略去高阶小量:

AD7::(D:一D。)鲁

一(11)

则系统总的测量误差:

AD= ̄/AD;+AD722(12)

取a=1。,D,jD2、8分别取值,带入式(12),计算测量

误差,如表1所示。

表1计算测量误差

从表1可以看出,在测量范围130±lmm内,误差为△D=0.19pan。在实际铁路检修现场,被测的轴承通常为197726型轴承,其公差为巾1~+0咖,即直径变化在50tan内,实际测量中直径的变化不会

万 

方数据超出±lmm的范围;而

且机构的定位误差可

控制在上述的8和d内,故由定位带来的测

量误差应小于0.19tan,这个精度完全可以满足测量的要求,所以该测量方法理论上是可

图4轴向定位误差分析

行的。

1.3系统的实现

按照上述测量原理,设计系统的定位机构和整

体实现方案,如图5所示。轴承直径得变化引起安装在定位机构上传感器输出电压得变化,传感器电

压信号经前置滤波放大后,单片机完成的数据采集

与存储,由液晶显示屏实时显示,功能键盘完成标

定,测量等功能。单片机可以通过RS一232与PC通

信,完成数据的传送。

图5系统实现方案

表2测量数据

2实验结果及结论

按照图5系统组成方案,设计了轴承内径测量仪,并对一标准轴承孔进行了测量,实验结果如表2

所示,从测量数据可以看出,六次测量的平均值接近

真值;两个截面测量的最大误差分别为0.6胛、0.9脚,大于理论计算值,这是由于传感器本身的非线

性、A/D转换过程、测量力、温度等因素(下转第71页)

第31卷第1期张必超等:嵌入式DRAM的BIST测试方法的研究71

数据和该数据的参数扩展的一个eDRAM模型。为对设计阶段制作的缺陷较少的芯片,该方法更加有

了使仿真时间减少,这个模型必须是一个完全模型效。的精简。它是评估一系列不同测试条件的代表。第4.3应用

二步是开发一个对相关单元阵测试的适当描述。这按上述测试方案,我们在J750K集成电路测试就意味着对APG或存储ATE适用的测试图形码必系统上,通过其提供的存储器测试选件(MTO)实现须转化成上述eDRAM核模型适用的形式。第三,根了对嵌入式DRAM的BIST测试。通过BIST控制据eDRAM核模型的具体结构不同,为了激发一个测器,利用4位诊断总线来捕获16位存储器数据,至试图形中给定的命令序列,必须产生一些外部少要执行4次完整的测试才能捕获到所有的存储器eDRAM核信号。为了激发测试,还必须定义一套测位图。而我们借助MTO可以按一定的算法生成试条件,如温度范围。这个方法可用来找到一个测BIST所需的测试向量,减少了产生测试向量图形的试的边界条件以在使用第一片硅片之前优化时间。同时,有了MTO就可以降低传统测试对测试eDRAM测试。当然,进一步的优化也许是需要的,图形存储器大容量的要求。

但与传统的DRAM测试开发流程相比,反复的次数

5结束语

将明显减少。

本文讨论了测试系统芯片(SOC)上的嵌入式

4.2该方案的原理及优点

DRAM的传统方法和BIST测试策略,简单介绍了嵌如图2所示,该方案采用小型诊断数据总线,多入式DRAM的BIST测试方案,认为BIST方法将成

次重复BIST测试操作,图中的“BIST开”处于开时,为集成电路的主流测试技术。因为随着微电子工艺

就进行一次测试操作,每次操作可检查不同片的存和技术以及通信技术的发展,特别是半导体存储器、储器输出。它在被测电路不能通过初始产品测试时中央微处理器、数字信号处理器和可编程逻辑器件

执行诊断模式。处于诊断模式时,BIST控制器执行的需求量越来越大,性能要求也越来越高,并且,随

完整的测试,一片存储器输出多路开关在诊断数据着系统芯片的日益普及,测试成本正呈现出增加的总线上。重复上述测试,不同片的数据就被捕获在趋势。为了保持较低的测试成本,未来的测试将会诊断数据总线上,直到全部存储器输出都被捕获。

是完全BIST,它已经在存储器测试、通信系统测试等方面与扫描测试结合并成功应用,它的优势已经突显出来。可以预期,基于BIST的测试技术的发展和完善是VLSI制造业面临的一项重要课题,它将为VLSI电路的研究和发展带来更加广阔的应用前景。

参考文献

[1]AndreasSteininger.Testingandbuilt—inself-test--Asurvey

EJ].JournalofSystemsArchitecture,2000,46:721—747.

[2]刘建都.嵌入式系统的在线自测试技术[J].电子技

图2

BIST测试方案原理框图

术,2000,26:45—51.

该方法保证附加的应用时间最短。总的测试时[3]吴德馨,钱鹤,叶甜春,等.现代微电子技术[M].北

京:化学工、世出版社,2002.

司取决于测试中的失败次数,器件之间各不相同。

….・1…}_一・。…l_-・-+…l_・+。…‘lH‘。¨.o._…¨………l・‘¨l………-。……’……-・。’…l_--“…l-・-’¨l…一。¨.…・。ll

(上接第40页)

用价值。

也带来了测量误差,而定位引起的测量误差是误差参考文献

的主要来源。系统的最大测量误差0.9tma小于检

[1]张桂青,等.铁路货车滚动轴承、轴颈测量与选配系统

修允许的极限误差8tan_3J,完全可以用于生产现场。

的开发研制[J].铁道机车车辆,2001,3:11—13.综上,本测量方法原理简单,系统对定位误差[2]冯其波.激光高精度测量大型工件内外径方法和系统

6、a的精度要求低,容易仪器化;测量系统体积小,的研究[D].清华大学博士论文,1993.

便携,实现了高精度、智能化,与软件配套使用,可以[3]王晓政,等.关于车辆滚动轴承车轴轴径直径量仪的

使用[J].铁道车辆,1994,4:57—58.

极大的提高现场的检修效率和质量,具有很高的实

万 

方数据

轴承内径测量方法的研究

作者:作者单位:刊名:英文刊名:年,卷(期):引用次数:

李永怀, 崔建英, 冯其波

北京交通大学理学院,北京,100044中国测试技术

CHINA MEASURKEMENT TECHNOLOGY2005,31(1)1次

参考文献(3条)

1.张桂青.孙善庆.姚忠贵 铁路货车滚动轴承、轴颈测量与选配系统的开发研制[期刊论文]-铁道机车车辆 2001(3)2.冯其波 激光高精度测量大型工件内外径方法和系统的研究[学位论文] 19933.王晓政 关于车辆滚动轴承车轴轴径直径量仪的使用 1994(4)

相似文献(1条)

1.期刊论文 李永怀.崔建英.冯其波 新型轴颈测量系统的研制 -铁道车辆2004,42(9)

提出了一种用V形槽定位测量轴径的方法,并给出了系统总体方案.该方案实现了轴颈的自动定位和测量,减小了人工测量误差,实用性较强.

引证文献(1条)

1.王勇峰.刘文波 轴承内径在线检测仪的设计与误差分析[期刊论文]-机械工程师 2007(11)

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