机床电器2012. 1——数控检测系统原理与维修数控·数显—
数控检测系统原理与维修
王小方
（威海职业学院，264210）
摘要：本文介绍数控检测系统的种类。重点分析了光栅检测系统的原理。读数头把工作台的位移量，由光栅尺再通过光电转换元件，把光强信号转换成与光强成比例的电信号，然后由放大电把光信号转换成莫尔条纹移动量，
路、整形电路、倍频鉴向以及计数电路处理，最终记录下工作台的位移量。
关键词：分辨率；莫尔条纹；光栅尺；栅距；倍频鉴向
+
中图分类号：TM930．126
文献标识码：B 文章编号：1004－0420（2012）01－0022－04
0前言
在数控系统中，为保证数控机床的加工精度要求，建
类。直线型位置检测装置用来测量运动部件的直线位移量；旋转型位置检测装置用来检测回转部件的转角量（转动位移量）来间接测量其直线位移量。
从信号的转换原理可分为光电效应、光栅效应、电压电效应、磁阻效应等类型的检测装置。磁感应、
立完善的闭环数控系统是数控机床保证加工精度的前提。精密的检测装置是数控机床加工精度的重要保证。
1检测装置的种类
数控检测装置从不同的角度看可分为不同的类型：a．根据被测物理量可分为位移、速度和电流三种
2数控机床对检测装置的要求
数控机床对检测装置的主要要求有：a．工作可靠，抗干扰能力强；b．能满足精度和速度的要求；
c．使用维护方便，适应机床的工作环境；d．成本低。
类型；
b．根据安装位置及耦合方式，分为直接测量和间接测量。回转型测量装置是测量回转角的大小，对机床的直线位移是间接测量，其测量精度取决于测量装置和机床传动机构两者的精度；直线型测量装置是直接测量机床的直线位移量，其测量精度主要取决于测量装置的精度，与机床传动机构的精度无关；
c．按测量方法分为增量式和绝对式两大类。绝对式是指直接把被测转角或位移转换成相应的代码，指示出绝对位置，没有累积误差，而且掉电后位置信息不会丢失；增量式检测装置是测出被测转角或位移量的相对值，通常是滑尺相对定尺的位移量，且以机床或工件上某一点为参考点，反映工作台或刀具相对某参考点的增量；
d．按检测信号的类型分为模拟式和数字式两大类。数字式是指将机械位移或转角的模拟量转变为数字脉冲输出的测量装置；模拟式是指将机械位移转变为感应电势的相位或幅值输出的测量装置。同一种检测元件，既可以做成数字式也可以做成模拟式，主要取决于测量线路及使用要求；
e．按检测装置的运动形式分为旋转型和直线型两
3光栅位置检测装置的构成
在数控检测装置中，种类比较多，其构造及原理各
不相同。这里主要介绍光栅位置测量系统的构成（如图1所示）
。
图1光栅检测系统
光栅位置测量系统主要包括读数头和信息处理电路两大部分。读数头是将机械位移量转换为电信号，由光源、透镜、标尺光栅、指示光栅和光敏元件组成；信息处理电路是将读数头输出的微小信号转换成数字脉冲信号并进行处理的电路，由放大环节、整形环节、鉴向倍频电路、计数及控制电路组成。
—22—
——数控检测系统原理与维修数控·数显—机床电器2012. 1
3．1光栅读数头
读数头的种类很多，常用的有垂直入射式读数头
束照射光栅尺。并透过光栅尺照射到光敏元件上。标尺光栅上的线纹与指示光栅上的线纹在空间形成一定角度θ放置（如图4所示）。从而形成两光栅尺上的线在平行光束的照射下，两光栅尺线纹交叉纹相互交叉，
点附近区域，由于线纹重叠，透明区域变大，透射光线效果最好，透光的累积使这个区域出现亮带。相反，距交叉点越远，两光栅尺不透明的黑线的重叠部分越少，黑线所占区域将增多，则遮光面积增大，挡光效应增强，只有少量光线透过光栅尺，从而使这个区域出现暗暗相间的光带称带。这些与光栅线纹几乎垂直的亮、
为莫尔条纹。严格地说莫尔条纹的排列方向与两光栅尺线纹夹角的平分线垂直
。
和反射光栅读数头。这里以垂直入射式读数头（见图2）为例进行分析
。
图2垂直入射式读数头
a．光源：一般采用白炽灯，发出辐射光线；b．透镜：把光源的辐射光线经过透镜后变为平行光束；
c．标尺光栅和指示光栅统称为光栅尺，它们是用真空镀膜的方法，光刻有均匀密集线纹的透明玻璃尺（线纹透明与不透明间隔相等）如图3所示。标尺光栅固定指示光栅与读在机床的活动部件（如工作台或丝杠上），
数头的其它部件安装在机床的固定部件上（如机床底座上），两者随机床工作台的移动而相对移动
。
图4莫尔条纹图
当两光栅尺相对移动时，莫尔条纹也将随之移动，并且莫尔条纹的移动方向与两光栅尺相对移动的方向则莫尔条纹垂直；当两光栅尺相对移动一个栅距d 时，
也相应地移动莫尔条纹宽度W ；若两光栅尺相对移动莫尔条纹的移动方向也随之改变。方向改变时，
莫尔条纹由亮带到暗带、再由暗带到亮带。即透
图3
透射光栅
过两光栅尺的光线强度的分布近似余弦规律。当两光栅尺相对移动时，照射到同一点（如光敏元件）上的光强也将是按余弦规律变化的。光敏元件是一种将光强信号转变为电信号的光电转换元件。当一束光强变化规律为余弦的光信号照射光敏元件时，光敏元件将输出余弦规律变化的电压信号。
根据要求不同，在读数头内通常安装2个或4个光敏元件（以4个光敏元件为例分析）。4个光敏元件在莫尔条纹宽度W 上均匀分布，光敏元件两两相距1/4莫尔条纹，4个光即W /4。当两光栅尺相对移动时，敏元件输出的电压信号在相位上依次超前或滞后1/4周期（即π/2）。根据光敏元件产生两两相位相差π/2的交变电压信号的相位关系、变化过程及频率，就可以确定出两光栅尺相对移动的方向、距离及速度。
光栅尺的刻线线纹相互平行，线纹之间的距离相等，此距离称为栅距。每毫米上的线纹数称为线纹密线纹密度越大，测量精度越高。一般用黑白光栅尺度，
可做到100条/mm，再经过电路细分，可作到微米级的50、100、125、250）条/mm。同分辨率。常用的有（25、
一个光栅尺，标尺光栅和指示光栅的线纹密度必须相同；
d．光电池组：也称光敏元件，是一种将光信号转而且光敏元件能根据光强不同，感换成电信号的元件，应出不同幅值的电压信号。
4光栅位置检测装置的原理
光源发出的辐射光线，经过透镜后变为平行的光
—23—
机床电器2012. 1——数控检测系统原理与维修数控·数显—
式中：W －莫尔条纹的宽度；d －光栅尺的栅距；θ－两光栅尺线纹的夹角；它们三者之间的几何关系为：
W =
d
2sin （θ/2）
差动放大器输出端将分别输出初相位为0ʎ 和π/2的U B ，如图5所示。其平均值为2．5V 。U A 交变信号U A 、
U A 或U B 每变和U B 的频率表示了工作台的移动速度，
U A 与U B 的化一个周期表示工作台移动了一个栅距，相位关系表示了工作台移动的方向。
若取d =0．01mm （100条/mm），θ≈0．57ʎ ，则由上式可得出W =1mm 。由此可看出利用光的干涉现象，把光栅的栅距转换成放大了100倍的莫尔条纹宽度。由于莫尔条纹是由若干光栅线纹干涉形成的，如光栅每个光敏元件也做成10mm 长，光栅线纹尺长10mm ，
为100条/mm，则在光敏元件上得到莫尔条纹的光强，则是由1000条光栅线纹而形成，则光敏元件输出的电信号也是由这1000条光栅线纹的光强而共同形成。由此可知，莫尔条纹对光栅各线纹之间的栅距误差有平均效应，能消除光栅栅距不均匀造成的影响。
5．2整形环节（见图6）
整形环节是将差动放大器输出的2路交变信号，
分别加到2个电压比较器，如图6所示。整形环节（电压比较器）将U A 及U B 转换成与交变电压信号同频率的两路方波信号A 及B 。交变信号电压的平均值为2．5V ，电压比较器的比较电压取2．5V 。当被比较电压U A （U B ）低于2．5V 时，电压比较器输出低电平，即0V ；当被比较电压U A （U B ）高于2．5V 时，电压比较器输出高电平（5V ）
。
5
5．1
信息处理电路及原理分析
放大环节
由于光栅读数头（读数头中光敏元件）输出微弱的
交变电压信号。常采用差动放大器进行信号放大。4个b 、c 、d 输出的四路信号，若a 路输出信号初光敏元件a 、
c 路输出信号则b 路输出信号初相位为π/2，相位为0ʎ ，
d 路输出信号初相位为3π/4（见图5）
。初相位为π，
图6
整形环节线路及输入输出波形
5．3倍频鉴向电路（见图7）
整形环节输出的方波信号每变化一个周期表示工
作台移动了一个栅距。倍频电路每输出一个脉冲，计数器就计一个数。在整形环节输出方波信号变化一个
图5
放大环节
周期中（即工作台移动一个栅距），倍频电路输出脉冲越多，光栅检测装置的分辨率就越高，相应机床的加工10倍频、20精度也就越高。倍频电路输出有4倍频、
倍频。若光栅尺选用100条/mm与10倍频电路配合
，
将a 路和c 路信号（相位相差180ʎ ）加到同一差将b 路和d 路动放大器的同相输入端和反向输入端，
信号加到另一差动放大器的同相及反相输入端。两只
图7四倍频电路及波形
—24—
——数控检测系统原理与维修数控·数显—机床电器2012. 1
可使检测装置的测量精度达到1μm 的分辨率。（以
下以4倍频为例分析）在机床工作台移动了一个光栅整形环节输出一个周期方波信号，则倍频电路栅距时，
将在一个方波信号周期内输出4个脉冲信号。因此，倍频电路每输出一个脉冲，就表示工作台移动了1/4栅距。若光栅尺选用100线/mm，则该光栅测量装置可达到2．5μm 的分辨率。4倍频线路及4倍频线路输出波形如图7所示。在倍频电路中，时钟频率越高，倍频电路输出脉冲的误差就越小。因此，时钟脉冲频率远远高于方波的频率。
鉴向电路根据整形环节输出的两路方波信号的相位关系，辨别出工作台移动的方向。倍频电路将方波B 变成四路方波信号M 1、M 2、M 3、M 4，信号A 、鉴相电“四选一”路采用双逻辑电路，如图8所示，能根据方B 的相位关系确定Y 1或Y 2的输出，当工作台正波A 、
向移动时Y 1输出计数脉冲，反之Y 2输出计数脉冲。再由可逆计数器作加计数或减计数状态关系见表1。
表1
A 0011
读数头的故障。
6．3维修过程
首先确定是读数头部分还是信息处理电路的故
障。由于只是纵向工作台移动测量数据出错。其它方向测量数据正确。采用的方法是把纵向读数头的信号得到的结果是，测量的送到其它方向的信息处理电路，
数据仍然是错误的，由此可判断故障在读数头。
把读数头的外壳打开后，光源灯亮，工作台移动时于是怀疑也能看到莫尔条纹在光敏元件上上下移动，光敏元件损坏，通过示波器测得差动放大器输出信号波形幅值较低（低于2．5V ）。换上一个新的光敏元件故障依旧。之后发现透镜松动，则怀疑透镜的焦后，
距、焦点改变。（透镜支架上有调节透镜角度的螺钉），于是调节透镜角度，同时移动工作台，观察示波器波形，在改变透镜角度的过程中，其波形的幅值也随之改变，调节在一个最佳位置，使其波形幅值最大。此时测量数据也正确了。将透镜紧固后，故障排除。由分由于透镜的松动，使焦点的位置改变，虽然能析得知，
看到莫尔条纹移动，但是光强的差别变小而使波形的幅值变小。从而使得记录数据的过程中出现丢数的故障。
用了一段时间后，又出现上述类似的故障现象，于是怀疑还是透镜支架松动导致，检修时没有发现松动调节透镜角度时发现波形最大是也低于2．5V ，现象，
则故障可能是光敏元件不良，换上新的光敏元件，故障消除。
参考文献：
［1］王凤藴．数控原理与典型数控系统［M ］．北京：高等教
2003：45－51．育出版社，
［2］韩鸿鸾．数控原理与维修技术［M ］．北京：机械工业出
2004：200－204．版社，
［3］黄尚先．现代机床数控技术［M ］．北京：机械工业出版
1996：188－196．社，
［4］王爱玲．现代数控原理及控制系统［M ］．北京：国防工
2005．业出版社，
［5］任建平．现代数控机床故障诊断及维修［M ］．北京：国
2005．防工业出版社，收稿日期：2011－09－22
作者简介：王小方（1980－），女，讲师，主要从事模拟电子技术，数字电子技术的理论教学工作及变流技术及自动控制技术的研究。
鉴向电路输入输出状态
B 0101
Y 1（正向）
M 4
M 2M 1M 3
Y 2（反向）
M 2
M 3M 4M 1
珚珔珚珔Y 1=A B M 4+A BM 2+A B M 1+ABM 3=A B M 4·A BM 2·A B M
1·ABM 3珚珔珚珔Y 2=A B M 2+A BM 3+A B M 4+ABM 1=
A B M 2·A BM 3·A B M 4·ABM 1
图8“四选一”双逻辑电路
6
6．1
维修实例分析
故障现象
（即工作台移动全程记录在测量数据过程中丢数，
的数据变小，而返回到终点数据也不能减计数到零）。
6．2分析原因
一个可能是信息处理电路的故障；另一个可能是
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机床电器2012. 1——数控检测系统原理与维修数控·数显—
数控检测系统原理与维修
王小方
（威海职业学院，264210）
摘要：本文介绍数控检测系统的种类。重点分析了光栅检测系统的原理。读数头把工作台的位移量，由光栅尺再通过光电转换元件，把光强信号转换成与光强成比例的电信号，然后由放大电把光信号转换成莫尔条纹移动量，
路、整形电路、倍频鉴向以及计数电路处理，最终记录下工作台的位移量。
关键词：分辨率；莫尔条纹；光栅尺；栅距；倍频鉴向
+
中图分类号：TM930．126
文献标识码：B 文章编号：1004－0420（2012）01－0022－04
0前言
在数控系统中，为保证数控机床的加工精度要求，建
类。直线型位置检测装置用来测量运动部件的直线位移量；旋转型位置检测装置用来检测回转部件的转角量（转动位移量）来间接测量其直线位移量。
从信号的转换原理可分为光电效应、光栅效应、电压电效应、磁阻效应等类型的检测装置。磁感应、
立完善的闭环数控系统是数控机床保证加工精度的前提。精密的检测装置是数控机床加工精度的重要保证。
1检测装置的种类
数控检测装置从不同的角度看可分为不同的类型：a．根据被测物理量可分为位移、速度和电流三种
2数控机床对检测装置的要求
数控机床对检测装置的主要要求有：a．工作可靠，抗干扰能力强；b．能满足精度和速度的要求；
c．使用维护方便，适应机床的工作环境；d．成本低。
类型；
b．根据安装位置及耦合方式，分为直接测量和间接测量。回转型测量装置是测量回转角的大小，对机床的直线位移是间接测量，其测量精度取决于测量装置和机床传动机构两者的精度；直线型测量装置是直接测量机床的直线位移量，其测量精度主要取决于测量装置的精度，与机床传动机构的精度无关；
c．按测量方法分为增量式和绝对式两大类。绝对式是指直接把被测转角或位移转换成相应的代码，指示出绝对位置，没有累积误差，而且掉电后位置信息不会丢失；增量式检测装置是测出被测转角或位移量的相对值，通常是滑尺相对定尺的位移量，且以机床或工件上某一点为参考点，反映工作台或刀具相对某参考点的增量；
d．按检测信号的类型分为模拟式和数字式两大类。数字式是指将机械位移或转角的模拟量转变为数字脉冲输出的测量装置；模拟式是指将机械位移转变为感应电势的相位或幅值输出的测量装置。同一种检测元件，既可以做成数字式也可以做成模拟式，主要取决于测量线路及使用要求；
e．按检测装置的运动形式分为旋转型和直线型两
3光栅位置检测装置的构成
在数控检测装置中，种类比较多，其构造及原理各
不相同。这里主要介绍光栅位置测量系统的构成（如图1所示）
。
图1光栅检测系统
光栅位置测量系统主要包括读数头和信息处理电路两大部分。读数头是将机械位移量转换为电信号，由光源、透镜、标尺光栅、指示光栅和光敏元件组成；信息处理电路是将读数头输出的微小信号转换成数字脉冲信号并进行处理的电路，由放大环节、整形环节、鉴向倍频电路、计数及控制电路组成。
—22—
——数控检测系统原理与维修数控·数显—机床电器2012. 1
3．1光栅读数头
读数头的种类很多，常用的有垂直入射式读数头
束照射光栅尺。并透过光栅尺照射到光敏元件上。标尺光栅上的线纹与指示光栅上的线纹在空间形成一定角度θ放置（如图4所示）。从而形成两光栅尺上的线在平行光束的照射下，两光栅尺线纹交叉纹相互交叉，
点附近区域，由于线纹重叠，透明区域变大，透射光线效果最好，透光的累积使这个区域出现亮带。相反，距交叉点越远，两光栅尺不透明的黑线的重叠部分越少，黑线所占区域将增多，则遮光面积增大，挡光效应增强，只有少量光线透过光栅尺，从而使这个区域出现暗暗相间的光带称带。这些与光栅线纹几乎垂直的亮、
为莫尔条纹。严格地说莫尔条纹的排列方向与两光栅尺线纹夹角的平分线垂直
。
和反射光栅读数头。这里以垂直入射式读数头（见图2）为例进行分析
。
图2垂直入射式读数头
a．光源：一般采用白炽灯，发出辐射光线；b．透镜：把光源的辐射光线经过透镜后变为平行光束；
c．标尺光栅和指示光栅统称为光栅尺，它们是用真空镀膜的方法，光刻有均匀密集线纹的透明玻璃尺（线纹透明与不透明间隔相等）如图3所示。标尺光栅固定指示光栅与读在机床的活动部件（如工作台或丝杠上），
数头的其它部件安装在机床的固定部件上（如机床底座上），两者随机床工作台的移动而相对移动
。
图4莫尔条纹图
当两光栅尺相对移动时，莫尔条纹也将随之移动，并且莫尔条纹的移动方向与两光栅尺相对移动的方向则莫尔条纹垂直；当两光栅尺相对移动一个栅距d 时，
也相应地移动莫尔条纹宽度W ；若两光栅尺相对移动莫尔条纹的移动方向也随之改变。方向改变时，
莫尔条纹由亮带到暗带、再由暗带到亮带。即透
图3
透射光栅
过两光栅尺的光线强度的分布近似余弦规律。当两光栅尺相对移动时，照射到同一点（如光敏元件）上的光强也将是按余弦规律变化的。光敏元件是一种将光强信号转变为电信号的光电转换元件。当一束光强变化规律为余弦的光信号照射光敏元件时，光敏元件将输出余弦规律变化的电压信号。
根据要求不同，在读数头内通常安装2个或4个光敏元件（以4个光敏元件为例分析）。4个光敏元件在莫尔条纹宽度W 上均匀分布，光敏元件两两相距1/4莫尔条纹，4个光即W /4。当两光栅尺相对移动时，敏元件输出的电压信号在相位上依次超前或滞后1/4周期（即π/2）。根据光敏元件产生两两相位相差π/2的交变电压信号的相位关系、变化过程及频率，就可以确定出两光栅尺相对移动的方向、距离及速度。
光栅尺的刻线线纹相互平行，线纹之间的距离相等，此距离称为栅距。每毫米上的线纹数称为线纹密线纹密度越大，测量精度越高。一般用黑白光栅尺度，
可做到100条/mm，再经过电路细分，可作到微米级的50、100、125、250）条/mm。同分辨率。常用的有（25、
一个光栅尺，标尺光栅和指示光栅的线纹密度必须相同；
d．光电池组：也称光敏元件，是一种将光信号转而且光敏元件能根据光强不同，感换成电信号的元件，应出不同幅值的电压信号。
4光栅位置检测装置的原理
光源发出的辐射光线，经过透镜后变为平行的光
—23—
机床电器2012. 1——数控检测系统原理与维修数控·数显—
式中：W －莫尔条纹的宽度；d －光栅尺的栅距；θ－两光栅尺线纹的夹角；它们三者之间的几何关系为：
W =
d
2sin （θ/2）
差动放大器输出端将分别输出初相位为0ʎ 和π/2的U B ，如图5所示。其平均值为2．5V 。U A 交变信号U A 、
U A 或U B 每变和U B 的频率表示了工作台的移动速度，
U A 与U B 的化一个周期表示工作台移动了一个栅距，相位关系表示了工作台移动的方向。
若取d =0．01mm （100条/mm），θ≈0．57ʎ ，则由上式可得出W =1mm 。由此可看出利用光的干涉现象，把光栅的栅距转换成放大了100倍的莫尔条纹宽度。由于莫尔条纹是由若干光栅线纹干涉形成的，如光栅每个光敏元件也做成10mm 长，光栅线纹尺长10mm ，
为100条/mm，则在光敏元件上得到莫尔条纹的光强，则是由1000条光栅线纹而形成，则光敏元件输出的电信号也是由这1000条光栅线纹的光强而共同形成。由此可知，莫尔条纹对光栅各线纹之间的栅距误差有平均效应，能消除光栅栅距不均匀造成的影响。
5．2整形环节（见图6）
整形环节是将差动放大器输出的2路交变信号，
分别加到2个电压比较器，如图6所示。整形环节（电压比较器）将U A 及U B 转换成与交变电压信号同频率的两路方波信号A 及B 。交变信号电压的平均值为2．5V ，电压比较器的比较电压取2．5V 。当被比较电压U A （U B ）低于2．5V 时，电压比较器输出低电平，即0V ；当被比较电压U A （U B ）高于2．5V 时，电压比较器输出高电平（5V ）
。
5
5．1
信息处理电路及原理分析
放大环节
由于光栅读数头（读数头中光敏元件）输出微弱的
交变电压信号。常采用差动放大器进行信号放大。4个b 、c 、d 输出的四路信号，若a 路输出信号初光敏元件a 、
c 路输出信号则b 路输出信号初相位为π/2，相位为0ʎ ，
d 路输出信号初相位为3π/4（见图5）
。初相位为π，
图6
整形环节线路及输入输出波形
5．3倍频鉴向电路（见图7）
整形环节输出的方波信号每变化一个周期表示工
作台移动了一个栅距。倍频电路每输出一个脉冲，计数器就计一个数。在整形环节输出方波信号变化一个
图5
放大环节
周期中（即工作台移动一个栅距），倍频电路输出脉冲越多，光栅检测装置的分辨率就越高，相应机床的加工10倍频、20精度也就越高。倍频电路输出有4倍频、
倍频。若光栅尺选用100条/mm与10倍频电路配合
，
将a 路和c 路信号（相位相差180ʎ ）加到同一差将b 路和d 路动放大器的同相输入端和反向输入端，
信号加到另一差动放大器的同相及反相输入端。两只
图7四倍频电路及波形
—24—
——数控检测系统原理与维修数控·数显—机床电器2012. 1
可使检测装置的测量精度达到1μm 的分辨率。（以
下以4倍频为例分析）在机床工作台移动了一个光栅整形环节输出一个周期方波信号，则倍频电路栅距时，
将在一个方波信号周期内输出4个脉冲信号。因此，倍频电路每输出一个脉冲，就表示工作台移动了1/4栅距。若光栅尺选用100线/mm，则该光栅测量装置可达到2．5μm 的分辨率。4倍频线路及4倍频线路输出波形如图7所示。在倍频电路中，时钟频率越高，倍频电路输出脉冲的误差就越小。因此，时钟脉冲频率远远高于方波的频率。
鉴向电路根据整形环节输出的两路方波信号的相位关系，辨别出工作台移动的方向。倍频电路将方波B 变成四路方波信号M 1、M 2、M 3、M 4，信号A 、鉴相电“四选一”路采用双逻辑电路，如图8所示，能根据方B 的相位关系确定Y 1或Y 2的输出，当工作台正波A 、
向移动时Y 1输出计数脉冲，反之Y 2输出计数脉冲。再由可逆计数器作加计数或减计数状态关系见表1。
表1
A 0011
读数头的故障。
6．3维修过程
首先确定是读数头部分还是信息处理电路的故
障。由于只是纵向工作台移动测量数据出错。其它方向测量数据正确。采用的方法是把纵向读数头的信号得到的结果是，测量的送到其它方向的信息处理电路，
数据仍然是错误的，由此可判断故障在读数头。
把读数头的外壳打开后，光源灯亮，工作台移动时于是怀疑也能看到莫尔条纹在光敏元件上上下移动，光敏元件损坏，通过示波器测得差动放大器输出信号波形幅值较低（低于2．5V ）。换上一个新的光敏元件故障依旧。之后发现透镜松动，则怀疑透镜的焦后，
距、焦点改变。（透镜支架上有调节透镜角度的螺钉），于是调节透镜角度，同时移动工作台，观察示波器波形，在改变透镜角度的过程中，其波形的幅值也随之改变，调节在一个最佳位置，使其波形幅值最大。此时测量数据也正确了。将透镜紧固后，故障排除。由分由于透镜的松动，使焦点的位置改变，虽然能析得知，
看到莫尔条纹移动，但是光强的差别变小而使波形的幅值变小。从而使得记录数据的过程中出现丢数的故障。
用了一段时间后，又出现上述类似的故障现象，于是怀疑还是透镜支架松动导致，检修时没有发现松动调节透镜角度时发现波形最大是也低于2．5V ，现象，
则故障可能是光敏元件不良，换上新的光敏元件，故障消除。
参考文献：
［1］王凤藴．数控原理与典型数控系统［M ］．北京：高等教
2003：45－51．育出版社，
［2］韩鸿鸾．数控原理与维修技术［M ］．北京：机械工业出
2004：200－204．版社，
［3］黄尚先．现代机床数控技术［M ］．北京：机械工业出版
1996：188－196．社，
［4］王爱玲．现代数控原理及控制系统［M ］．北京：国防工
2005．业出版社，
［5］任建平．现代数控机床故障诊断及维修［M ］．北京：国
2005．防工业出版社，收稿日期：2011－09－22
作者简介：王小方（1980－），女，讲师，主要从事模拟电子技术，数字电子技术的理论教学工作及变流技术及自动控制技术的研究。
鉴向电路输入输出状态
B 0101
Y 1（正向）
M 4
M 2M 1M 3
Y 2（反向）
M 2
M 3M 4M 1
珚珔珚珔Y 1=A B M 4+A BM 2+A B M 1+ABM 3=A B M 4·A BM 2·A B M
1·ABM 3珚珔珚珔Y 2=A B M 2+A BM 3+A B M 4+ABM 1=
A B M 2·A BM 3·A B M 4·ABM 1
图8“四选一”双逻辑电路
6
6．1
维修实例分析
故障现象
（即工作台移动全程记录在测量数据过程中丢数，
的数据变小，而返回到终点数据也不能减计数到零）。
6．2分析原因
一个可能是信息处理电路的故障；另一个可能是
—25—