1、 目的
规定有关统计过程控制及过程能力分析的方法。 2、 使用范围
本规定适用于设备能力、初始过程能力和长期过程能力的研究。 3、 术语
3.1 变差：也称波动，指同一过程输出个体间的差异。 3.2 初始过程能力：是过程总变差的总范围（6σs）。 3.3 过程能力：某一稳定过程固有变差的总范围（6σR/d2）。
3.4 初始过程能力指数：不考虑过程有无偏移，定义为容差宽度除以过程能力，用以评价生产过程准备情况。
3.5 过程能力指数：不考虑过程有无偏移，定义为容差宽度除以过程能力，用以评价某一稳定过程的输出同规范要求（顾客要求）的关系。
3.6 Cmk（设备能力指数）：衡量所使用的设备是否满足零件加工精度的要求的定量化指标。
3.7 统计过程控制：适用诸如控制图等统计技术来分析过程或其输出，以便采取适当的措施来达到并保持统计控制状态，从而提高过程能力。
3.8 控制图：用来表示一个过程特性的图像，图上标有根据那个特性收集到的一些统计数据，一条中心线，一条或两条控制限。它能减少Ⅰ类或Ⅱ类错误的净经济损失。它有两个基本的用途：一是用来判定一个过程是否一直受统计控制；二是用来监控过程保持受控状态。
控制图可分为计量型和计数型两大类。
计量型的过程表现为得到的质量特性为可度量的数值（如直径、长度等），计数型表现为只有两个数值（如合格/不合格，成功/失败…），但他们可以被计数从而用来记录和分析。 4、职责
4.1 新产品试制阶段，由产品质量先期策划小组依据产品/过程特殊特性，制定设备能力、初始过程能力研究计划，并组织实施。
4.2 批量生产阶段，由技术质量部技术人员负责制定计划（或依特殊情况），收集数据及
计算，并正确评价。
4.3 若统计过程不受控，相关职能部门应制定过程纠正预防措施并实施。 4.4 技术质量部监督并验证过程纠正预防措施的实施。
4.5 正常生产过程中，确保每半年对关键、重要特性（可收集计量型数据的）进行一次Cpk值研究。当顾客有特殊要求时，执行顾客要求。 5、工作内容及控制方法 5.1 设备能力的测算
5.1.1 确定所研究的对象分析和加工零件的待测特性及规范公差，测量方法和测量工具。 5.1.2 样本数：最小样本为50件。
5.1.3 研究时机：新零件、新设备/模具、公差带压缩、设备大修、设备更新、机器搬迁、长期停产等。 5.1.4 采集样本的时机
在做完测量系统分析并合格后，按规定的样本数连续采集数据并记录。 5.1.5 计算公式 X =∑（Xi-X）2 (n-1) Cm=(USL-LSL)/6S
Cmk=min{(USL-X)/3S，（X-LSL）/3S } S——过程变差的平方根 n——采集的样本数 Xi——样本的测量值 X——样本的平均值 USL——公差的上限 LSL——公差的下限 5.1.6 设备能力的评价
Cmk≥1.67,设备有满足质量指标的加工能力，可使用于指定生产；
Cmk＜1.67，设备能力不足，应对该设备加工的所有零件进行100%检验，并对设备进行检修，检修后重新进行Cmk研究。
5.1.7 保存
设备能力测算表由生产部负责保存，期限长期。 5.2 过程性能及过程能力研究 5.2.1 制定“Ppk、Cpk计划”
5.2.2 绘制分析用控制图（X-R图为例）
5.2.2.1收集数据并记录在控制图上，同时与控制图下面记录过程相关事件。 5.2.2.2 计算每一子组的均值和极差，并记录在控制图上。
X=∑Xi/n , R=Xmax-Xmin n：子组中样品数量 Xi：子组中每一样品测量值 Xmax：子组中最大样品测量值 Xmin：子组中最小样品测量值 5.2.3 选定控制图的刻度
5.2.4 按平均值和极差值在控制图上描出对应点。
5.2.5 计算极差均值和过程均值X，并按均值在控制图上画出中心线。
式中：k：子组数
Ri：每一个子组的极差 ：每一个子组的均值 5.2.6 计算控制限
UCLr= D4R LCLr=D3 R UCLx2 R LCLx= X -A2 R
式中A2，D3，D4根据子组容量表查得出 5.2.7 按计算结果在均值图和极差图中画出控制限。 5.2.8 分析控制图是否随即分布： a. 点：出现超出控制线的点；
b. 链：产生连续七点上升/下降/在平均值的一侧的点；
c. 明显的非随机图形：显著多于（或少于）2/3的点落在离均值很近之处。 若有上述非随机分布现象，则：
a. 去除非随机点，重新计算控制界限，再次分析控制图；
b. 如需采取纠正措施，改进过程，则应在纠正措施实施有效后重新收集数据，制作控制图并重新进行分析。
5.2.9 计算初始过程能力指数：（试生产阶段进行或过程改变） Pp=（USL-LSL）/6σ
s
式中：USL：规范的公差上限 LSL：规范的公差下限
σs：总体样本标准差
在过程有偏移的情况下
Ppk=min{(USL-X)/3σs sσs s }
σ
s=
5.2.10 评价初始过程能力指数
Ppk≥1.67：满足要求，可以进入批量生产阶段。 Ppk＜1.67：初始能力需改进
a. 减少特殊原因引起的变差，将过程均值调整到接近目标值。
b. 减少特殊原因引起的变差，减少单个过程特性值的变差。
c. 改变规范使之与过程能力一致。
5.2.11 制作控制用控制图：
5.2.11.1 将初始过程满足质量要求所到的控制中心线与上、下控制限画在控制图上。 5.2.11.2 按初始过程能力研究确定的子组大小收集样本，记录过程事件。 5.2.11.3 计算每组样本的均制和极差，并在控制图上描点。 5.2.11.4 分析控制图上的点是否随机分布（方法同5.1.8） 5.2.12 计算过程能力指数 Cp=(USL-LSL)/ 6σ
（X-LSL）/ 3σR/d2} R/d2 3σR/d2 ，
其中σR/d2= R /d2 ，式中d2根据子组容量查表得出
5.2.12.1评价过程能力：（批量生产阶段进行）
5.2.12.2 初始过程能力只在过程刚刚建立或改变时分析计算，批量生产产品过程能力每半年计算一次。
5.2.12.3过程能力测算由技术质量部保存，期限三年。初始过程能力测算表提交先期质量策划小组。 6、形成文件和记录
E3PD823R1 控制图
1、 目的
规定有关统计过程控制及过程能力分析的方法。 2、 使用范围
本规定适用于设备能力、初始过程能力和长期过程能力的研究。 3、 术语
3.1 变差：也称波动，指同一过程输出个体间的差异。 3.2 初始过程能力：是过程总变差的总范围（6σs）。 3.3 过程能力：某一稳定过程固有变差的总范围（6σR/d2）。
3.4 初始过程能力指数：不考虑过程有无偏移，定义为容差宽度除以过程能力，用以评价生产过程准备情况。
3.5 过程能力指数：不考虑过程有无偏移，定义为容差宽度除以过程能力，用以评价某一稳定过程的输出同规范要求（顾客要求）的关系。
3.6 Cmk（设备能力指数）：衡量所使用的设备是否满足零件加工精度的要求的定量化指标。
3.7 统计过程控制：适用诸如控制图等统计技术来分析过程或其输出，以便采取适当的措施来达到并保持统计控制状态，从而提高过程能力。
3.8 控制图：用来表示一个过程特性的图像，图上标有根据那个特性收集到的一些统计数据，一条中心线，一条或两条控制限。它能减少Ⅰ类或Ⅱ类错误的净经济损失。它有两个基本的用途：一是用来判定一个过程是否一直受统计控制；二是用来监控过程保持受控状态。
控制图可分为计量型和计数型两大类。
计量型的过程表现为得到的质量特性为可度量的数值（如直径、长度等），计数型表现为只有两个数值（如合格/不合格，成功/失败…），但他们可以被计数从而用来记录和分析。 4、职责
4.1 新产品试制阶段，由产品质量先期策划小组依据产品/过程特殊特性，制定设备能力、初始过程能力研究计划，并组织实施。
4.2 批量生产阶段，由技术质量部技术人员负责制定计划（或依特殊情况），收集数据及
计算，并正确评价。
4.3 若统计过程不受控，相关职能部门应制定过程纠正预防措施并实施。 4.4 技术质量部监督并验证过程纠正预防措施的实施。
4.5 正常生产过程中，确保每半年对关键、重要特性（可收集计量型数据的）进行一次Cpk值研究。当顾客有特殊要求时，执行顾客要求。 5、工作内容及控制方法 5.1 设备能力的测算
5.1.1 确定所研究的对象分析和加工零件的待测特性及规范公差，测量方法和测量工具。 5.1.2 样本数：最小样本为50件。
5.1.3 研究时机：新零件、新设备/模具、公差带压缩、设备大修、设备更新、机器搬迁、长期停产等。 5.1.4 采集样本的时机
在做完测量系统分析并合格后，按规定的样本数连续采集数据并记录。 5.1.5 计算公式 X =∑（Xi-X）2 (n-1) Cm=(USL-LSL)/6S
Cmk=min{(USL-X)/3S，（X-LSL）/3S } S——过程变差的平方根 n——采集的样本数 Xi——样本的测量值 X——样本的平均值 USL——公差的上限 LSL——公差的下限 5.1.6 设备能力的评价
Cmk≥1.67,设备有满足质量指标的加工能力，可使用于指定生产；
Cmk＜1.67，设备能力不足，应对该设备加工的所有零件进行100%检验，并对设备进行检修，检修后重新进行Cmk研究。
5.1.7 保存
设备能力测算表由生产部负责保存，期限长期。 5.2 过程性能及过程能力研究 5.2.1 制定“Ppk、Cpk计划”
5.2.2 绘制分析用控制图（X-R图为例）
5.2.2.1收集数据并记录在控制图上，同时与控制图下面记录过程相关事件。 5.2.2.2 计算每一子组的均值和极差，并记录在控制图上。
X=∑Xi/n , R=Xmax-Xmin n：子组中样品数量 Xi：子组中每一样品测量值 Xmax：子组中最大样品测量值 Xmin：子组中最小样品测量值 5.2.3 选定控制图的刻度
5.2.4 按平均值和极差值在控制图上描出对应点。
5.2.5 计算极差均值和过程均值X，并按均值在控制图上画出中心线。
式中：k：子组数
Ri：每一个子组的极差 ：每一个子组的均值 5.2.6 计算控制限
UCLr= D4R LCLr=D3 R UCLx2 R LCLx= X -A2 R
式中A2，D3，D4根据子组容量表查得出 5.2.7 按计算结果在均值图和极差图中画出控制限。 5.2.8 分析控制图是否随即分布： a. 点：出现超出控制线的点；
b. 链：产生连续七点上升/下降/在平均值的一侧的点；
c. 明显的非随机图形：显著多于（或少于）2/3的点落在离均值很近之处。 若有上述非随机分布现象，则：
a. 去除非随机点，重新计算控制界限，再次分析控制图；
b. 如需采取纠正措施，改进过程，则应在纠正措施实施有效后重新收集数据，制作控制图并重新进行分析。
5.2.9 计算初始过程能力指数：（试生产阶段进行或过程改变） Pp=（USL-LSL）/6σ
s
式中：USL：规范的公差上限 LSL：规范的公差下限
σs：总体样本标准差
在过程有偏移的情况下
Ppk=min{(USL-X)/3σs sσs s }
σ
s=
5.2.10 评价初始过程能力指数
Ppk≥1.67：满足要求，可以进入批量生产阶段。 Ppk＜1.67：初始能力需改进
a. 减少特殊原因引起的变差，将过程均值调整到接近目标值。
b. 减少特殊原因引起的变差，减少单个过程特性值的变差。
c. 改变规范使之与过程能力一致。
5.2.11 制作控制用控制图：
5.2.11.1 将初始过程满足质量要求所到的控制中心线与上、下控制限画在控制图上。 5.2.11.2 按初始过程能力研究确定的子组大小收集样本，记录过程事件。 5.2.11.3 计算每组样本的均制和极差，并在控制图上描点。 5.2.11.4 分析控制图上的点是否随机分布（方法同5.1.8） 5.2.12 计算过程能力指数 Cp=(USL-LSL)/ 6σ
（X-LSL）/ 3σR/d2} R/d2 3σR/d2 ，
其中σR/d2= R /d2 ，式中d2根据子组容量查表得出
5.2.12.1评价过程能力：（批量生产阶段进行）
5.2.12.2 初始过程能力只在过程刚刚建立或改变时分析计算，批量生产产品过程能力每半年计算一次。
5.2.12.3过程能力测算由技术质量部保存，期限三年。初始过程能力测算表提交先期质量策划小组。 6、形成文件和记录
E3PD823R1 控制图